Метод межэлементных корректировок, используемых для компенсации влияний присутствующих в образце элементов, с применением для калибровки комплектов стандартных образцов (SeRM)
Н.1 Общие положения
В настоящем приложении приведен принцип и метод корректировки для присутствующих компонентов для рентгенофлуоресцентного спектрального анализа огнеупорных кирпичей и мертелей.
Н.2 Виды корректировок
Корректируют два вида влияний сопутствующих элементов:
- наложения спектральных линий;
- массовой абсорбции.
Н.3 План корректировок
Н.3.1 Основные положения
Алгоритм проведения рентгенофлуоресцентного спектрального анализа с использованием корректировок на присутствующие (раз в названии они обозначены как "присутствующие элементы") элементы приведен в Н.3.2 и Н.3.3.
Н.3.2 Построение калибровочных кривых и расчет скорректированных уравнений
Процедура расчета приведена на рисунке Н.1. Измеряют интенсивности рентгеновской флуоресценции элементов, присутствующих в дисках, для получения калибровочных кривых и корректировок дрейфа.
Примечание - При наличии спектральных помех от остатков смазки необходимо корректировать влияние наложений.
Рисунок Н.1 - Процедура расчета скорректированных уравнений
Н.3.3 Анализы неизвестной пробы
Скорректированные уравнения калибровочных кривых, полученные в результате проведения процедуры по Н.3.2, используют для проведения обычных анализов. Этапы процедуры приведены на схеме Н.2.
Рисунок Н.2. Процедура проведения рутинных анализов
Н.4 Принцип, метод и алгоритм действий
Н.4.1 Корректировка наложения линий
Н.4.1.1 Основные положения
Если спектр сопутствующего элемента накладывается на спектр анализируемого компонента, влияние можно откорректировать по формуле
, (Н.1)