Коррекция на свойства испытательного пространства на рабочем месте. Определение локальной коррекции K
А.1 Общие положения
А.1.1 В соответствии с методом, установленным в настоящем приложении, локальную коррекцию K определяют на основе следующих величин:
а) среднего корректированного на фоновый шум (без коррекции на акустические свойства испытательного пространства) уровня звукового давления излучения на измерительной поверхности, рассчитываемого по формуле
, (A.1)
где - уровни звукового давления, измеренные в N точках измерения вокруг испытуемой машины. Число точек измерений и их расположение рекомендуется выбирать такими же, что и на измерительной поверхности в методах определения уровня звуковой мощности по ISO 3744 или ISO 3746;
b) корректированного на фоновый шум (без коррекции на акустические свойства испытательного пространства) уровня звукового давления на рабочем месте, причем последнее не должно быть расположено на измерительной поверхности, используемой для определения .
Если оператор машины перемещается по определенному маршруту, измеряют в эквидистантных точках маршрута. Значение находят усреднением с помощью энергетического суммирования .
A.1.2 В зависимости от имеющейся информации, для расчета может применяться метод по A.2, на основе средней величины коррекции (см. 3.21) по измерительной поверхности, или метод, изложенный в A.3, на основе величины - (A - эквивалентная площадь звукопоглощения испытательного помещения). Так как оба метода основаны на одних предположениях, они теоретически должны давать одинаковые величины .
A.2 Определение локальной коррекции на испытательное пространство K на основе K
Величину , дБ, рассчитывают по формуле
, (A.2)
где
; (A.3)
- средняя поправка на свойства испытательного пространства на измерительной поверхности, на которой был определен средний уровень звукового давления (см. ISO 3744);
- фактический показатель направленности рабочего места (см. 3.23).
Если известен уровень звуковой мощности , величина может быть представлена в виде
, (А.4)
где ;
- площадь измерительной поверхности, по которой была определена коррекция K;
=1 м.
На рисунке A.1 изображен график зависимости от и от в качестве параметра.