Альтернативный метод для искусственного старения
Каскетку, подвергаемую искусственному старению, облучают светом ксеноновой дуговой лампы. Энергию излучения лампы пропускают через фильтр, формирующий спектральное распределение мощности, близкое к дневному свету.
Каскетку закрепляют на цилиндрическом держателе, в середине которого находится лампа и который вращается вокруг своей оси с частотой от 1 до 5 об./мин.
Каждая каскетка, которую впоследствии подвергают испытанию на защиту от ударов или на перфорацию, должна быть размещена таким образом, чтобы контрольная зона, подвергающаяся испытанию, была обращена к лампе. Плоскость, касательная к корпусу в этой точке, должна быть перпендикулярна к радиусу цилиндрического держателя.
Энергию излучения, падающего на плоскость в контрольной зоне, измеряют или вычисляют на основе данных, предоставленных изготовителем испытательного стенда. Продолжительность облучения должна регулироваться таким образом, чтобы облучаемые образцы получили суммарную дозу 1 ГДж/м в диапазоне длин волн от 280 до 800 нм.
Образцы следует периодически обрабатывать дистиллированной или деминерализованной водой (электропроводностью менее 5 мкСм/см) циклом, состоящим из фазы опрыскивания продолжительностью 18 мин и фазы без опрыскивания продолжительностью 102 мин. Во время фазы без опрыскивания относительная влажность должна составлять (50±5)%.
Температуру в испытательной камере следует измерять черным стандартным термометром, находящимся на таком же расстоянии от лампы, что и облучаемые контрольные зоны каскеток. Температуру следует поддерживать на уровне (70±3)°С (см. [2]-[4]).
Примечания
1 Не все испытательное оборудование, отвечающее в остальном требованиям [2]-[4], имеет рамочный держатель образцов, диаметр которого достаточен для размещения всей каскетки.
2 Положение водяных форсунок при необходимости следует отрегулировать так, чтобы они не мешали работе.
3 Должна быть предусмотрена возможность снижения мощности ксеноновой дуговой лампы до нормального эксплуатационного уровня, чтобы можно было поддерживать допустимую интенсивность излучения на поверхности образца, которая требуется при данном методе испытания.