ГОСТ Р 57394-2017
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ И ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Методы ускоренных испытаний на безотказность
Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for no-failure operation
ОКС 31.080.01
31.200
Дата введения 2018-01-01