Статус документа
Статус документа

ГОСТ 17772-88 (СТ СЭВ 3789-82) Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик

     
     ГОСТ 17772-88
(СТ СЭВ 3789-82)

Группа Э29

     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

     

ПРИЕМНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
И ФОТОПРИЕМНЫЕ УСТРОЙСТВА

     
Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик

     
Semiconducting photoelectric detectors and receiving photoelectric devices.
Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics.



ОКП 62 5000

Срок действия с 01.07.89
до 01.07.92*
________________________________
* Ограничение срока действия снято
постановлением Госстандарта России от 30.07.92 N 826
(ИУС N 10, 1992 год) - Примечание изготовителя базы данных.



ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29.06.88 N 2513

2. СРОК ПЕРВОЙ ПРОВЕРКИ - 1991 г.

3. Стандарт содержит все требования СТ СЭВ 3789-82, дополнительно включены 16 методов измерений

4. ВЗАМЕН ГОСТ 17772-79.

5. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение НТД,
на который дана ссылка

Номер пункта, подпункта, перечисления, приложения

ГОСТ 8.001-80

1.1.1.1

ГОСТ 8.023-86

1.1.1.4, перечисление 1

ГОСТ 8.186-83

1.1.1.4, перечисление 2

ГОСТ 8.198-85

1.11.1.7

ГОСТ 8.207-76

Приложение 8, п.1, п.2, перечисления 1, 2

ГОСТ 8.326-78

1.1.1.1; 1.1.4.2

ГОСТ 8.383-80

1.1.1.1

ГОСТ 8.513-84

1.1.1.1; приложение 3, п.1.1; приложение 6, п.1.1

ГОСТ 12.0.004-79

2.2, 2.6

ГОСТ 12.1.019-79

2.1

ГОСТ 12.1.030-81

2.2

ГОСТ 12.1.031-81

2.3

ГОСТ 12.2.007.0-75ГОСТ 12.2.007.14-75

2.1

ГОСТ 12.2.032-78

2.7, 2.9

ГОСТ 12.2.033-78

2.7, 2.9

ГОСТ 12.3.002-75

2.4, 2.6

ГОСТ 12.4.013-85

2.5

ГОСТ 3044-84

Приложение 3, пп.1.2, 4.1, 4.5

ГОСТ 3789-82

Вводная часть

ГОСТ 9293-74

2.4

ГОСТ 17616-82

1.1.1.4

ГОСТ 18986.4-73

1.7.1



Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм.

Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений.

Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик:

а) на немодулированном излучении:

1) темнового, общего тока и фототока ФЭПП,

2) темнового сопротивления ФЭПП,

3) дифференциального электрического сопротивления ФЭПП,

4) статической токовой чувствительности,

5) рабочего напряжения лавинного фотодиода,

6) коэффициента умножения темнового тока и фототока лавинного фотодиода,

7) емкости ФЭПП;