ГОСТ 17772-88
(СТ СЭВ 3789-82)

Группа Э29

     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

     

ПРИЕМНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
И ФОТОПРИЕМНЫЕ УСТРОЙСТВА

     
Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик

     
Semiconducting photoelectric detectors and receiving photoelectric devices.
Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics.

ОКП 62 5000

Срок действия с 01.07.89
до 01.07.92*
________________________________
* Ограничение срока действия снято
постановлением Госстандарта России от 30.07.92 N 826
(ИУС N 10, 1992 год) - Примечание изготовителя базы данных.

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29.06.88 N 2513

2. СРОК ПЕРВОЙ ПРОВЕРКИ - 1991 г.

3. Стандарт содержит все требования СТ СЭВ 3789-82, дополнительно включены 16 методов измерений

4. ВЗАМЕН ГОСТ 17772-79.

5. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм.

Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений.

Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик:

а) на немодулированном излучении:

1) темнового, общего тока и фототока ФЭПП,

2) темнового сопротивления ФЭПП,

3) дифференциального электрического сопротивления ФЭПП,

4) статической токовой чувствительности,

5) рабочего напряжения лавинного фотодиода,

6) коэффициента умножения темнового тока и фототока лавинного фотодиода,

7) емкости ФЭПП;

б) на модулированном излучении:

8) напряжения фотосигнала и шума,

9) тока фотосигнала и шума,

10) эффективной фоточувствительной площади,

11) статической чувствительности,

12) порога чувствительности,

13) обнаружительной способности;

в) на импульсном потоке:

14) импульсной чувствительности (вольтовой и токовой),

15) времени нарастания и спада;

г) определение характеристик ФЭПП или ФПУ,

16) вольт-амперной характеристики,

17) плоского угла зрения,

18) линейной зоны и дифференциальной крутизны координатной характеристики координатного фотодиода,

19) дрейфа нулевой точки координатного фотодиода,

20) коэффициента фотоэлектрической связи многоэлементного ФЭПП или ФПУ,

21) неравномерности чувствительности,

22) энергетических характеристик ФОТОТОКА ФЭПП,

23) энергетических характеристик напряжения фотосигнала,

24) динамического диапазона,

25) частотных характеристик,

26) спектральной характеристики чувствительности и ее параметров,

27) фоновых характеристик,

28) температурных характеристик,

29) времени выхода на режим охлаждаемого ФЭПП или ФПУ,

30) времени автономной работы охлаждаемых ФЭПП или ФПУ,

31) нестабильности параметров.

Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения приведены в приложении 2.

Степень соответствия настоящего стандарта СТ СЭВ 3789-82 приведена в приложении 1.

1. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ

1.1. Метод измерения темнового, общего тока и фототока ФЭПП

1.1.1. Требования к средствам измерений

1.1.1.1. Для измерения параметров ФЭПП (ФПУ) применяют средства измерений, прошедшие государственные испытания в соответствии с ГОСТ 8.001-80*, ГОСТ 8.383-80*. Нестандартизированные средства измерений должны быть аттестованы по ГОСТ 8.326-78. Средства измерений должны быть поверены по ГОСТ 8.513-84**.

_______________

** На территории Российской Федерации действуют ПР 50.2.006-94, здесь и далее по тексту. - Примечание изготовителя базы данных.

Перечень средств измерения и вспомогательных устройств, применяемых для измерения параметров ФЭПП и ФПУ, должен быть указан в ТУ на их конкретные типы.

1.1.1.2. Конструкция контактных устройств (контактодержателей) для подключения ФЭПП к измерительной цепи должны обеспечивать надежность электрического контакта без механических повреждений выводов ФЭПП и исключать влияние их на результаты измерений.

1.1.1.3. Конструкция измерительной установки должна исключать влияние рассеянного света и посторонних источников излучения на результаты измерений.

1.1.1.4. Тип источника излучения следует выбирать с учетом параметров измеряемого изделия, установленных в стандартах или ТУ на изделие конкретных типов. При измерении параметров, используемых в качестве справочных, в зависимости от области спектральной чувствительности и режима работы ФЭПП, рекомендуется применять следующие источники излучения:

1) лампу накаливания типа СИС или РН при цветовой температуре =(2856±100) К по ГОСТ 8.023-86*;

_______________

* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 8.023-2003, здесь и далее по тексту. - Примечание изготовителя базы данных.

2) полный излучатель - абсолютно черное тело (АЧТ) с температурой полости =(500±2) К или =(1273±15) К по ГОСТ 8.186-83.

Методика измерения температуры полного излучателя (АЧТ) и ее стабильности приведена в приложении 3.

В состав источников излучения для ослабления потока излучения или для увеличения плотности мощности могут входить ослабители (аттенюаторы), зеркала, линзы, объективы и другие оптические элементы. Влияние оптических элементов не должно учитываться, если они изменяют коэффициент использования излучения за счет изменения его спектрального состава не более чем на 2%. Под коэффициентом использования излучения следует понимать

,                                                              (1)