(справочное)
Обоснование комплекса метрологических характеристик методик (методов) измерений
В.1 Метрологические характеристики методик количественного химического анализа и методик измерений характеристик свойств
В.1.1 Установление характеристик погрешности измерений осуществляется на основе следующей модели представления суммарной погрешности:
, (В.1)
где - часть погрешности измерений, обусловленная факторами, приводящими к разбросу результатов измерений в условиях сходимости (далее - факторы сходимости);
- часть погрешности измерений, обусловленная факторами, приводящими к разбросу результатов измерений в условиях воспроизводимости, за исключением факторов сходимости (далее - факторы "чистой" воспроизводимости);
- часть погрешности измерений, обусловленная факторами, приводящими к отклонениям результата измерений от фактического значения, за исключением факторов сходимости и воспроизводимости (далее - факторы правильности);
* - символ суммирования погрешностей, рассматриваемых как случайные величины.
В.1.2 Составляющая погрешности имеет случайный характер.
В.1.3 По отношению к измерениям, проводимым в условиях сходимости, составляющая погрешности имеет систематический характер, а по отношению к измерениям, проводимым в условиях воспроизводимости, - случайный характер.
В.1.4 Составляющая погрешности имеет систематический характер, и ее исключают при разработке МВИ путем введения поправки к результатам измерений. Тогда модель погрешности измерений можно представить в виде
, (В.2)
где - неисключенный остаток систематической составляющей погрешности.
Примечание - Значение характеристики неисключенного остатка систематической составляющей погрешности измерений численно равно величине критерия при оценке значимости систематической составляющей погрешности.