Коррекцию на спектральное несоответствие выполняют, используя данные измерений тока короткого замыкания в соответствии с ГОСТ Р МЭК 60904-7 с учетом изменений методики, повышающей точность и достоверность результатов (см. [4]). Данные об изменении значений тока короткого замыкания при разных спектрах используют для пропорционального изменения энергетической освещенности и рассчитывают эффективную энергетическую освещенность рабочей поверхности фотоэлектрического модуля .
Для расчетов используют спектральную чувствительность фотоэлектрического модуля , измеренную для разных длин волн , в соответствии с ГОСТ Р 58648.2-2019, раздел 5, и ГОСТ Р МЭК 60904-8 с учетом изменений методики, повышающих точность и достоверность результатов измерений (см. [5]), для фотоэлектрических модулей, изготовленных из многопереходных фотоэлектрических элементов, см. также [6]).
Коэффициент спектрального несоответствия MM в j-й час рассчитывают по формуле
, (6)
где - спектральная плотность энергетической освещенности наклонной поверхности на длине волны падающего излучения в j-й час, Вт/(м·нм), определяемая как отношение к ширине каждой спектральной полосы, нм;
- спектральная плотность энергетической освещенности на длине волны для спектра стандартных условий испытаний AM 1,5 в соответствии с ГОСТ Р МЭК 60904-3 [с учетом последних данных по спектру AM 1,5 (см. [3])].
Пределы интегрирования: 300 нм, 4000 нм.
Суммарную энергетическую освещенность наклонной поверхности в j-й час, скорректированную на спектральное несоответствие, рассчитывают как:
. (7)
Для фотоэлектрических модулей, изготовленных из многопереходных фотоэлектрических элементов, коррекцию значений энергетической освещенности на спектральное несоответствие выполняют только тогда, когда для каждого перехода выполняются соответствующие ограничения (см. [6]).