ГОСТ Р МЭК 60904-8-2013

     

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Государственная система обеспечения единства измерений

ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ

Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов

     
State system for ensuring the uniformity of measurements. Photovoltaic devices. Part 8. Measurement of spectral response of a photovoltaic device

ОКС 17.020*

______________

* По данным официального сайта Росстандарт

ОКС 27.160. - Примечание изготовителя базы данных.                                           

Дата введения 2015-07-01

     

Предисловие

1 ПОДГОТОВЛЕН на основе аутентичного перевода на русский язык указанного в пункте 4 стандарта, который выполнен Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП "ВНИИОФИ")

2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии, Техническим комитетом по стандартизации ТК 206, ПК 206.10 "Эталоны и поверочные схемы в области оптических и оптико-физических измерений"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 22 ноября 2013 г. N 1713-ст

4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 60904-8:1998* Приборы фотоэлектрические. Часть 8. Руководство по измерению спектральной чувствительности фотоэлектрического прибора (IEC 60904-8:1998 "Photovoltaic devices - Part 8: Measurement of spectral response of a photovoltaic (PV) device")

________________

     * Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым в тексте, можно получить, обратившись в Службу поддержки пользователей. - Примечание изготовителя базы данных.  

Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5-2004 (подраздел 3.5).

При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА

5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0-2012 (раздел 8).  Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (gost.ru).

     1 Область применения

Настоящий стандарт устанавливает требования к измерениям относительной спектральной чувствительности линейных и нелинейных фотоэлектрических приборов. Настоящий стандарт распространяется только на однопереходные фотоэлектрические приборы.

     2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты*:

_______________

* Таблицу соответствия национальных стандартов международным см. по ссылке. - Примечание изготовителя базы данных.

МЭК 60904-1:1987 Приборы фотоэлектрические. Часть 1: Измерение вольтамперных характеристик фотоэлектрических приборов

МЭК 60904-2:1989 Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным элементам

МЭК 60904-3:1989 Фотоэлектрические приборы. Часть 3: Измерение характеристик фотоэлектрических приборов с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения

МЭК 61646:1996 Модули фотоэлектрические тонкопленочные для наземного применения. Квалификационная оценка конструкции и утверждение типа

     3 Специальные требования к тонкопленочным приборам

     3.1 Предварительная оценка стабильности

Перед измерениями спектральных характеристик фотоэлектрических тонкопленочных приборов, приборы стабилизируют с использованием процедуры тестовой засветки (смотри МЭК 61646).

     3.2 Измерения под белым смещающим излучением