ГОСТ Р 58648.2-2019 (МЭК 61853-2:2016) Модули фотоэлектрические. Определение рабочих характеристик и энергетическая оценка. Часть 2. Определение спектральной чувствительности, зависимости характеристик от угла падения и коэффициентов для расчета рабочей температуры

     5 Определение спектральной чувствительности

5.1 Общие положения

Испытание предназначено для определения влияния спектральной чувствительности фотоэлектрического модуля на значение тока, генерируемого им при данном уровне энергетической освещенности.

Обычно нет необходимости измерять спектральную чувствительность для всех значений энергетической освещенности и температуры, возможных в условиях эксплуатации. Для всех условий эксплуатации, для которых предназначен испытуемый фотоэлектрический модуль, достаточно точные данные можно получить в результате единственного измерения. Это подтверждается проверкой линейности тока короткого замыкания испытуемых образцов, измеренного по ГОСТ Р МЭК 61853-1. Если нелинейность тока короткого замыкания превышает 3% при изменении энергетической освещенности или температуры, может быть необходимо выполнить оценку того, изменится ли спектральная чувствительность в зависимости от энергетической освещенности и температуры (если спектральная чувствительность модуля какого-либо конкретного типа зависит от энергетической освещенности или температуры, этот факт должен быть отмечен в протоколе испытаний).

5.2 Порядок проведения испытаний

Измерение спектральной чувствительности выполняют по ГОСТ Р МЭК 60904-8** в условиях короткого замыкания, температуры испытуемого образца 25°С и соответствующего уровня энергетической освещенности с учетом изменений методики, повышающих точность и достоверность результатов измерений (см. [6]). Для фотоэлектрических модулей, изготовленных из многопереходных фотоэлектрических элементов, измерение спектральной чувствительности выполняют с учетом особенностей таких фотоэлектрических модулей (см. [3]).

Испытания должны по возможности проводиться с полноразмерным фотоэлектрическим модулем, т.е. характеристики должны относиться ко всему модулю в целом. Допускается использовать замещающий образец меньшего размера, эквивалентный по конструкции и материалам, или выполнять измерения характеристики отдельного фотоэлектрического элемента испытуемого фотоэлектрического модуля согласно ГОСТ Р МЭК 60904-8 (см. также [6], для фотоэлектрических модулей, изготовленных из многопереходных фотоэлектрических элементов - см. [3]). Если испытания проводят с отдельным фотоэлектрическим элементом, он должен быть герметизирован так же, по той же технологии, как и испытуемые полноразмерные модули, поскольку спектральная чувствительность фотоэлектрического элемента меняется при герметизации.