ГОСТ Р 56649-2015 Техника ракетно-космическая. Электронная компонентная база иностранного производства. Порядок применения

ГОСТ Р 56649-2015

Группа Т59

     

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ТЕХНИКА РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКАЯ

Электронная компонентная база иностранного производства

Порядок применения

Space-rocket hardware. Electronic components of foreign manufacture. Order of application

ОКС 49.060

Дата введения 2016-05-01

     

Предисловие

1 РАЗРАБОТАН Открытым акционерным обществом "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы")

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 321 "Ракетно-космическая техника"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. N 1590-ст

4 В настоящем стандарте учтены основные нормативные положения следующих стандартов Европейского космического агентства*, военных стандартов США, стандарта организации JEDEC и нормативного документа NASA:

________________

* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым в тексте, можно получить, обратившись в Службу поддержки пользователей. - Примечание изготовителя базы данных.

- ECSS-Q-ST-60C "Обеспечение качества продукции космического назначения. Электротехнические, электронные и электромеханические компоненты" ("Space product assurance. Electrical, electronic and electromechanical (EEE) components", NEQ)

- ECSS-Q-ST-60-14C "Обеспечение качества продукции космического назначения. Повторное подтверждение качества и надежности ЭКБ после хранения" ("Space product assurance. Relifing rocedure - EEE components", NEQ)

- MIL-PRF-38535 "Технические требования к производству интегральных микросхем. Общая спецификация" ("Performance specification. Integrated Circuits (Microcircuits) Manufacturing, General Specification For", NEQ)

- MIL-PRF-38534 "Технические требования к гибридным микросхемам. Общая спецификация" ("Performance Specification. Hybrid Microcircuits, General Specification For", NEQ)

- MIL-PRF-19500 "Технические требования к полупроводниковым приборам. Общая спецификация" ("Performance Specification Semiconductor Devices, General Specification For", NEQ)

- JESD370B "Система обозначений полупроводниковых приборов" ("Designation System for Semiconductor Devices", NEQ)

- EEE-INST-002 "Выбор, отбраковка, квалификация и снижение рабочих нагрузок компонентов ЭКБ" ("Instructions for EEE Parts Selection, Screening, Qualification, and Derating", NEQ)

5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0-2012 (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)