ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6-2015
Группа Э49
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Карты идентификационные
МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ
Часть 6
Карты близкого действия
Identification cards. Test methods. Part 6. Proximity cards
ОКС 35.240.15
ОКСТУ 4084
Дата введения 2016-07-01
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении" (ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии" на основе собственного аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии"
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 22 июня 2015 г. N 773-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-6:2011* "Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 6. Карты близкого действия" (ISO/IEC 10373-6:2011 Identification cards - Test methods - Part 6: Proximity cards), включая изменения A1:2012, A2:2012, A3:2012, A4:2012 и поправку Cor.1:2013.
________________
* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым в тексте, можно получить, обратившись в Службу поддержки пользователей. - Примечание изготовителя базы данных.
Изменения и техническая поправка к указанному международному стандарту, принятые после его официальной публикации, внесены в текст настоящего стандарта и выделены двойной вертикальной линией, расположенной на полях напротив соответствующего текста, а обозначение и год принятия изменения (технической поправки) приведены в скобках после соответствующего текста.
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА
Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4, могут являться объектом патентных прав. Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная электротехническая комиссия (МЭК) не несут ответственности за идентификацию подобных патентных прав
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ 1.0-2012* (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
________________
* Вероятно, ошибка оригинала. Следует читать: ГОСТ Р 1.0-2012. - Примечание изготовителя базы данных.
1 Область применения
Стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают методы испытаний для определения характеристик идентификационных карт, соответствующих определению, приведенному в ИСО/МЭК 7810 (далее - карты). В каждом методе испытания имеется ссылка на один или несколько базовых стандартов, которыми могут быть ИСО/МЭК 7810 либо один или несколько дополнительных стандартов, устанавливающих требования к технологиям хранения информации, применяемым в картах.
Примечание 1 - Критерии оценки результатов испытаний не включены в настоящий стандарт; они установлены в базовых стандартах.
Примечание 2 - Испытания, определенные в настоящем стандарте, следует проводить независимо одно от другого. Любую конкретную карту близкого действия или терминальное оборудование близкого действия не следует подвергать последовательно всем испытаниям.
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для карт и объектов близкого действия и соответствующего терминального оборудования, требования к которым установлены в ИСО/МЭК 14443-1:2008, ИСО/МЭК 14443-2:2010, ИСО/МЭК 14443-3:2011 и ИСО/МЭК 14443-4:2008. ИСО/МЭК 10373-1 определяет методы испытаний, являющиеся общими для одной или нескольких технологий хранения информации в картах на интегральных схемах, а остальные стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают другие методы испытаний, предназначенные для других технологий.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы ссылки на следующие международные стандарты*. Для датированных ссылок следует использовать только указанное издание, для недатированных ссылок следует использовать последнее издание указанного документа, включая все поправки:
_______________
* Таблицу соответствия национальных стандартов международным см. по ссылке. - Примечание изготовителя базы данных.
ИСО/МЭК 7810:2003 Карты идентификационные. Физические характеристики (ISO/IEC 7810:2003 Identification cards - Physical characteristics)
ИСО/МЭК 14443-1:2008 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 1. Физические характеристики (ISO/IEC 14443-1:2008 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 1: Physical characteristics)
ИСО/МЭК 14443-2:2010 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 2. Радиочастотный энергетический и сигнальный интерфейс (ISO/IEC 14443-2:2010 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 2: Radio frequency power and signal interface)
ИСО/МЭК 14443-3:2011 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 3. Инициализация и антиколлизия (ISO/IEC 14443-3:2011 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 3: Initialization and anticollision)
ИСО/МЭК 14443-4:2008 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 4. Протокол передачи (ISO/IEC 14443-4:2008 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 4: Transmission protocol)
МЭК 61000-4-2:2008 Электромагнитная совместимость. Часть 4-2. Методики испытаний и измерений. Испытание на невосприимчивость к электростатическому разряду [IEC 61000-4-2:2008 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test]
3 Термины, определения, обозначения и сокращения
В настоящем стандарте применены термины, определения, сокращения и обозначения по ИСО/МЭК 14443-1:2008, ИСО/МЭК 14443-2:2010, ИСО/МЭК 14443-3:2011, ИСО/МЭК 14443-4:2008, а также следующие термины с соответствующими определениями.
Примечание - Элементы в жирных скобках [ ] являются дополнительными определениями.
3.1 Термины и определения
3.1.1 базовый стандарт (base standard): Стандарт, для проверки соответствия требованиям которого используют данный метод испытания.
3.1.2 СascadeLevels: Число каскадных уровней PICС.
3.1.3 PICC "Класс 1" ("Class 1" PICC): PICC, у которой антенна расположена согласно ИСО/МЭК 14443-1:2008 и которая выдерживает испытание на максимальный эффект нагрузки по 7.2.5 настоящего стандарта в условиях, соответствующих PICC "Класс 1".
3.1.4 набор команд (command set): Набор, описывающий команды, посылаемые PICC во время инициализации и антиколлизии.
Примечание - См. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 6.4) для PICC типа А и ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.5) для PICC типа В.
3.1.5 эффект нагрузки (loading effect): Изменение тока антенны PCD, вызванное присутствием PICC в поле, в результате взаимного изменения резонанса и добротности антенны PCD. (Введен дополнительно. Изм.A1:2012.) |
3.1.6 отключение (mute): Отсутствие ответа в течение указанного времени ожидания, например, по истечению FWT.
________________
Отсюда и до конца подраздела 3.1 нумерация пунктов последовательно изменена из-за включения в текст стандарта дополнительного пункта 3.1.5 (Изм. А1:2012).
3.1.7 состояния PICC (PICC states): Различные состояния PICC во время инициализации и антиколлизии.
Примечание - См. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 6.3) для PICC типа А и ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.4) для PICC типа В.
3.1.8 сценарий (scenario): Определенный типовой протокол и коммуникация, специфичная для приложения, которые используются вместе с методами испытаний, определенными в настоящем стандарте.
3.1.9 исходное состояние испытания; TIS (Test Initial State; TIS): Одно из состояний PICC до выполнения PICC определенной команды из набора команд.
3.1.10 метод испытания (test method): Метод проверки характеристик идентификационных карт с целью подтверждения их соответствия требованиям стандартов.
3.1.11 целевое состояние испытания; TTS (Test Target State; TTS): Одно из состояний PICC после выполнения PICC определенной команды из набора команд.
3.2 Обозначения и сокращения
(ххххх)b | Обозначение бита информации | |
'XY' | Шестнадцатеричная система счисления, равно XY по основанию 16 | |
ATA(cid) | Ответ на ATTRIB, т.е. (mbli+cid CRC_B), с произвольным шестнадцатеричным значением mbli [см. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.11)] | |
ATTRIB(cid, fsdi) | Команда ATTRIB по умолчанию с PUPI из ATQB, CID=cid и значением кода максимального размера кадра=fsdi, т.е. ('1D' PUPI cid fsdi '01 00' CRC_B) | |
DUT | Испытуемое устройство (Device under test) | |
ESD | Электростатический разряд (Electrostatic Discharge) | |
l(c) | l-блок по ИСО/МЭК 14443-4 со сцеплением бит c | |
IUT | Тестируемая реализация (Implementation Under Test) (ИСО/МЭК 9646); в пределах области применения настоящего стандарта IUT представляет собой испытуемое PCD | |
LT | Нижний тестер (Lower Tester) (ИСО/МЭК 9646), эмуляционная часть PICC в оборудовании для испытаний PCD | |
m | Коэффициент модуляции (Modulation index) | |
Mute | Отсутствие ответа в течение указанного времени ожидания | |
N/A | Не применимо | |
PPS(cid, dri, dsi) | Запрос PPS по умолчанию с CID=cid, DRI=dri и DSI=dsi, т.е. ('D' + cid '11' dsi | |
R(ACK [,CID=cid] [,~CRC]) | Блок R(ACK) по ИСО/МЭК 14443-4 с числом блоков n. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c)n выше | |
R(NAK [,CID=cid] [,~CRC]) | Блок R(NAK) по ИСО/МЭК 14443-4 с числом блоков n. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c) | |
RATS(cid, fsdi) | Команда по умолчанию RATS с CID=cid и значением FSDI=fsdi, т.е. ('E0' fsdi | |
READY(I) | Состояние READY на каскадном уровне I, l | |
READY*(I) | Состояние READY* на каскадном уровне I, l | |
REQB(N) | Команда REQB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4) | |
S(WTX)(WTXM [,CID=cid][, ~CRC]) | Блок S(WTX) по ИСО/МЭК 14443-4 с параметром WTXM. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c)n выше | |
S(DESELECT [,CID=cid] | Блок S(DESELECT) по ИСО/МЭК 14443-4. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c) | |
SAK(cascade) | Ответ на команду SELECT(I) с каскадным битом (бит 3), установленным на(1)b | |
SAK(complete) | Ответ на команду SELECT(I) с каскадным битом (бит 3), установленным на (0)b | |
SEL(c) | Код выборки уровня с (т.е. SEL(1)='93', SEL(2)='95', SEL(3)='97') | |
SELECT(I) | Команда SELECT на каскадном уровне I, т.е. SELECT(1)=('93 70' UIDTX SELECT(2)=('95 70' UIDTX SELECT(3)=('97 70' UIDTX | |
SLOTMARKER(n) | Команда Slot-MARKER с номером слота n, т.е. (16 | |
TB-PDU | Блок Данных Протокола Передачи (Transmission Block Protocol Data Unit), который состоит либо из l-блока, либо из R-блока, либо из S-блока | |
TEST_COMMAND1(1) | Тестовая команда по умолчанию, состоящая из одного несцепленного l-блока Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PICC. | |
TEST_COMMAND1(n), n>1 | Тестовая команда по умолчанию, состоящая из n сцепленных I-блоков (сцепление PCD) Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PICC. | |
TEST_COMMAND1(n) | Поле INF k l-блока цепочки TEST_COMMAND1(n) Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PICC. | |
TEST_COMMAND2(n), n>1 | Тестовая команда по умолчанию, которая ожидает ответ, состоящий из n сцепленных I-блоков Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PCD. | |
TEST_COMMAND3 | Тестовая команда по умолчанию, состоящая из одного l-блока, которой необходимо время на выполнение больше, чем FWT | |
TEST_RESPONSE1(n) | Поле INF ответа на TEST_COMMAND1(n) Примечание - Предполагается, что этот ответ всегда не сцеплен. | |
TEST_RESPONSE2(n) | Ответ на TEST_COMMAND2(n) Примечание - Этот ответ зависит от согласованного максимального значения размера кадра PCD. | |
TEST_RESPONSE2(n) | Поле INF k l-блока цепочки TEST_RESPONSE2(n) Примечание - Этот ответ зависит от согласованного максимального значения размера кадра PCD. | |
TEST_RESPONSE3 | Ответный l-блок на TEST_COMMAND3 Примечание - Предполагается, что этот ответ всегда не сцеплен. | |
TM-PDU | Блок Данных Протокола Управления Тестированием (Test Management Protocol Data Unit) (ИСО/МЭК 9646-1, PDU) | |
| Старт передачи PICC (Start of PICC transmission) (Введено дополнительно. Изм.A2:2012.) | |
UIDTXI | Передаваемый UID из 32 бит данных на каскадном уровне I (см. таблицу 1) | |
UT | Верхний тестер (Upper Tester) (ИСО/МЭК 9646), мастер-компонента оборудования для испытаний PCD | |
UT_APDU | Блок Данных Прикладного Протокола Верхнего Тестера (Upper Tester Application Protocol Data Unit): пакет данных, которые должны быть отправлены PCD в LT через радиочастотный интерфейс | |
Напряжение постоянного тока. Измеренное на соединителе CON3 на эталонной PICC (Введено дополнительно. Изм.A1:2012.) | ||
WUPB(N) | Команда WUPB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4) | |
~Х | Последовательность битов, состоящая из инвертированных битов последовательности битов X или другой последовательности битов, отличной от Х | |
Х[[а..b]] | Подпоследовательность битов из последовательности битов X, состоящая из битов между позициями а и b включительно. Если а>b, то последовательность пустая | |
Х[[n]] | Бит в позиции n из последовательности битов X. Первый бит - в позиции 1 | |
Х[n] | Байт в позиции n из последовательности битов X. Первый байт - в позиции 1 (т.е. Х[n]=Х[[(n-1) |
