Разрушающий физический анализ корпусированных светодиодов
J.1 Описание
Цель данного испытания - оценить способность внутренних материалов, конструкции и качества изготовления корпусированного СД противостоять силам, вызываемым различными внешними факторами, возникающими при испытаниях на воздействие окружающей среды.
J.2 Оборудование
Необходимо следующее оборудование:
a) оптический микроскоп с увеличением до 50 крат включительно;
b) оборудование для вскрытия корпусированного СД.
J.3 Порядок проведения испытания
Испытания проводят в следующем порядке.
a) Корпусированные СД, отобранные для данного испытания, должны успешно пройти испытание на воздействие окружающей среды по 8.6.4 или 8.6.5 (TMCL-испытание и WHTOL-испытание).
b) Корпусированные СД вскрывают для доступа к кристаллу/подложке и определения наличия механического повреждения. Процесс вскрытия должен гарантировать, что не произойдет деградация выводов и проволочных соединений. Кристалл или подложка должны быть полностью раскрыты и освобождены от материала корпуса.
c) Корпусированные СД осматривают под увеличением до 50 крат включительно на соответствие критериям отказа по J.4.
d) Отказавшие корпусированные СД анализируют для выяснения причины отказа. Отчет по анализу отказов, подтверждающий анализ документально, должен включать в себя все отказы. Если анализ показывает, что отказ вызван вскрытием корпуса, то испытание повторяют на второй группе корпусированных СД.
J.4 Критерии отказов
Корпусированные СД считают отказавшими при обнаружении любого из следующих явных признаков:
a) несоответствия сертификату расчета, конструкции и квалификации корпусированного СД;
b) коррозии, загрязнения, отслаивания или пустот в металлизации;
c) трещин или дефектов кристалла/подложки;
d) дефектов проволочных соединений, присоединения кристалла или соединений контактных зажимов;
e) роста дендритов или электромиграции.