ГОСТ 32699-2014 Рама боковая и балка надрессорная литые трехэлементных двухосных тележек грузовых вагонов железных дорог колеи 1520 мм. Методы неразрушающего контроля (Издание с Поправкой)

     5 Магнитопорошковый метод контроля

5.1 Назначение магнитопорошкового контроля

МПК боковых рам и надрессорных балок проводят по ГОСТ 21105 с целью выявления дефектов различного направления.

5.2 Требования к средствам магнитопорошкового контроля

5.2.1 К средствам МПК относятся:

- дефектоскопы и/или намагничивающие устройства;

- магнитные индикаторы;

- настроечные образцы с поверхностными дефектами, вспомогательные приборы и устройства для проверки выявляющей способности магнитных индикаторов.

5.2.2 Дефектоскопы и/или намагничивающие устройства для МПК должны обеспечивать на поверхности боковых рам и надрессорных балок в зонах контроля значение тангенциальной составляющей вектора напряженности магнитного поля не менее 2000 А/м.

5.2.3 Для МПК боковых рам и надрессорных балок применяют следующие вспомогательные приборы и устройства:

- устройства для нанесения магнитных индикаторов на контролируемую поверхность деталей;

- устройства для осмотра контролируемой поверхности деталей;

- приборы и устройства для проверки режима намагничивания и намагниченности деталей (магнитометры, миллитесламетры);

- приборы и устройства для проверки выявляющей способности магнитных индикаторов.

5.2.4 При осмотре зон контроля применяются переносные светильники видимого или синего света, УФ-облучатели по ГОСТ 28369.

5.2.5 Интенсивность УФ-излучения на расстоянии 400 мм от источника должна быть не менее 10 Вт/м, а освещенность - не более 20 люкс.

5.2.6 При проверке выявляющей способности магнитных индикаторов применяют настроечные образцы с поверхностными искусственными дефектами с шириной раскрытия, соответствующей условному уровню чувствительности Б по ГОСТ 21105.

5.3 Подготовка к проведению магнитопорошкового контроля

До проведения МПК с контролируемой поверхности деталей должны быть удалены загрязнения, мешающие проведению контроля. Параметр шероховатости контролируемой поверхности должен быть не более по ГОСТ 2789.

5.4 Проведение контроля

5.4.1 МПК боковых рам и надрессорных балок проводят способом приложенного поля.

5.4.2 Намагничивание деталей проводят с применением намагничивающего устройства.

5.4.3 При использовании люминесцентных магнитных индикаторов осмотр поверхности деталей проводят с применением специализированных светильников синего света на светодиодах с максимумом интенсивности на длине волны 455 нм или источников ультрафиолетового излучения (УФ-облучателей) в спектральном диапазоне от 315 до 400 нм с максимумом интенсивности на длине волны 365 нм.

5.5 Оценка результатов контроля

Результаты МПК оценивают по наличию на контролируемой поверхности индикаторного рисунка. При этом протяженность дефекта принимают равной длине индикаторного рисунка. Группа из нескольких дефектов, расстояние между которыми меньше длины минимального из них, принимается за один протяженный дефект.