Испытание на специально вызванный отказ*
_______________
* Слова "специально вызванный" в наименовании приложения F в бумажном оригинале выделены курсивом. - Примечание изготовителя базы данных.
F.1 Схема испытания и оборудование
Схема испытания должна состоять из:
- сетевого источника питания на 50 Гц, напряжение которого должно быть равно номинальному напряжению ламп с допустимым отклонением ±2%;
- предохранителя на ток не менее 25 А для ламп на напряжение 220-250 В и 15 А (в стадии рассмотрения) для ламп на напряжение менее 220 В.
При испытании лампа должна быть закрыта защитным кожухом (при разгорании лампы и пробое).
Для вынужденного перегорания тела накала используют лазер достаточной мощности.
Примечание - Примером является неодимовый стеклянный лазер.
Индуктивность и сопротивление схемы, включая вышеупомянутые компоненты, предохранитель и проводку, должны удовлетворять следующим требованиям:
а) для ламп на номинальное напряжение от 200 до 250 В:
- сопротивление, Ом | 0,4-0,45; | |||
- индуктивность, мГн | 0,6-0,65; |
b) для ламп на напряжение от 100 до 150 В:
- сопротивление, Ом | 0,3-0,35; | |||
- индуктивность, мГн | 0,6-0,65. |
Прибор для измерения тока должен обеспечивать минимальное время разрешения 0,1 мс, минимальное время записи 1 с, минимальный ток разрешения 0,1 А (рекомендуемый диапазон тока до 500 А).
F.2 Методика испытания
Испытуемая лампа должна быть вставлена в патрон и установлен защитный кожух. Через небольшое отверстие в кожухе пропускают лазерный луч и фокусируют на теле накала лампы. Лампа должна быть включена. После полного разгорания лампы подают импульс лазера.
Если лампа продолжает гореть, то можно увеличить выходную мощность лазера и повторить подачу импульса. Эту процедуру повторяют до пробоя или перегорания тела накала лампы.
Примечания
1 Если фокусирование луча лазера нарушается покрытием колбы лампы или структурой внешней оболочки, то используют специально подготовленные образцы (например, применяют лазерное полирование стенки матированных колб).
2 Если тело накала разрывается без пробоя, то можно обеспечить пробой перемещением лампы так, чтобы точка разрыва находилась прямо над точкой нацеливания лазера. В этом положении испарение вольфрама должно способствовать образованию пробоя.
Если в лампе не происходит пробоя, то ее не учитывают и испытывают новую лампу.
F.3 Осмотр и оценка