5-й разряд
Характеристика работ. Контроль, приемка различных деталей, узлов, готовых изделий с применением контрольно-измерительных средств, специального и универсального инструмента, электрических, оптических приборов, аппаратов и установок рентгенотелевизионного микроскопа. Контроль и приемка сложных оптических деталей с применением интерферометра и автоколлиматора. Измерение электрических характеристик транзисторов, трансформаторов и микроэлементов для микромодулей специального назначения. Самостоятельная настройка аппаратуры и выбор режима испытания. Прием и испытание опытных образцов изделий с корректировкой технологического процесса. Проведение приемо-сдаточных выборочных и типовых испытаний и оформление соответствующих протоколов. Проверка прутков и проволоки на наличие внутренних дефектов на кавиметре и других приборах. Проверка качества приборов с классификацией по видам брака (свыше 20 видов). Монтаж схемы испытаний на стенде. Анализ видов брака.
Должен звать: требования технической документации к приемке особо сложных и точных изделий, деталей и узлов, приборов, способы и методы контроля всех микроэлементов, технологический процесс их изготовления, правила настройки и регулировки контрольно-измерительных инструментов, приборов и аппаратуры, испытательных схем; приемы и методы контроля испытаний особо сложных деталей и узлов готовых изделий; правила монтажа испытательных схем; условия сдачи изделий представителю заказчика в соответствии со специальными требованиями; принцип работы радиоламп, полупроводниковых диодов и транзисторов; влияние различных видов брака на параметры и работоспособность контролируемых изделий; порядок оформления рекламационных актов; основы радио- и электротехники.
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ
1. Блоки катодов ТКЛ - контроль с целью отбора для ламп особой серии.
2. Блоки рентгенотелевизионного микроскопа - контроль работоспособности и юстировка.
3. Герконы, детали герконов, контакты магнитоуправляемые, детали контактов магнитоуправляемых с особыми требованиями - контроль с применением оптических приборов; приемо-сдаточные испытания.
4. Детали керамические - контроль чистоты поверхности после механической обработки с применением профилометров и профилографов.
5. Детали и узлы электровакуумных приборов - контроль на рентгенотелевизионном микроскопе; входной контроль материалов по механическим свойствам; контроль по всему производственному циклу.
6. Детали различной конфигурации - контроль после ультразвуковой обработки и обработки лучами лазера.
7. Детали с радиоактивными покрытиями, детали и узлы изделий типа "Пик" - контроль.
8. Детали и узлы с асимметричным расположением отверстий, пазов, уступов и выступов, размеры на которые оговорены высокой степенью точности обработки (корпуса, блоки резонаторные) - контроль после механической обработки, после ультразвуковой обработки, обработки лучами лазера.
9. Детали и узлы шлифованные и полированные стеклянные, керамические, металлокерамические, ситалловые и кварцевые - контроль с применением УИМа, проектора и других сложных оптических приборов и установок.
10. Диафрагмы, компенсаторы с сеткой, блоки, ускорители, корпуса резонатора, держатели с сетками - контроль по размерам и чистоте с применением проектора, микроскопа прецизионного, микроскопа МБС-1 -2 и т.д.
11. Заготовки для фотошаблонов металлизированные - измерение оптической плотности маскирующего покрытия.
12. Интегральные и гибридные схемы - контроль по ТУ.
13. Изделия выдувные из стекломассы различных марок и сложных конфигураций - контроль на соответствие чертежу с применением оптических индикаторных стенкомеров.
14. Изделие ПГ-2-7 - контроль сборки на сопротивление изоляции, электрическую прочность изоляции, сопротивление замкнутых контактов и момента переключения.
15. Катоды после эрозионной обработки, катоды торцевые оксидные - контроль по толщине, весу, качеству покрытия с применением микроскопа.
16. Кинескопы заваренные и откаченные цветные - контроль.
17. Конденсаторы многослойные, высокотемпературные - контроль на соответствие ТУ.
18. Кристаллы, сборки, пластины, микросхемы - контроль по внешнему виду с применением контрольно-измерительных средств, оптических приборов, аппаратов и установок.
19. Кристаллы кварца оптические (искусственно выращенные) - определение качества оптических характеристик, приемка и оформление документов.
20. Микросхемы высокого уровня интеграции - анализ топологии, локализация дефектных элементов.
21. Микросхемы - контроль кристаллов, сборок с применением контрольно-измерительных средств.
22. Микросхемы открытые - контроль монтажа с применением оптических приборов.
23. Модули СВЧ и интегральные модули СВЧ полупроводниковые - окончательная приемка и контроль по всем параметрам в соответствии с ТУ с последующей сдачей проверенных приборов представителю заказчика.