ГОСТ ISO 12311-2020 Средства индивидуальной защиты глаз. Очки солнцезащитные и аналогичные. Методы испытаний

     8.3 Метод определения локальных отклонений рефракции

8.3.1 Принцип

В данном методе испытаний происходит сканирование испытуемого светофильтра параллельным лучом света номинальным диаметром 5 мм; отклонение луча детектируется фотодиодом, и полученный график отклонения от точки падения на светофильтре используют для измерения значения сферической рефракции и астигматизма в меньших зонах, чем метод с применением зрительной трубы (см. 8.1). Точность измерения должна быть выше 10 дптр (м). Принципиальная схема этого метода приведена на рисунке 10.

При прохождении параллельных световых лучей 1 и 2 на разной высоте через испытуемый светофильтр со сферическими поверхностями эти лучи пересекаются в задней фокальной плоскости светофильтра на расстоянии от задней главной плоскости светофильтра. Сферическая рефракция светофильтра составляет значение, равное . В светофильтре СИЗ глаз с разной кривизной поверхности в двух взаимно перпендикулярных направлениях или при наклонном падении световых лучей на сферическую поверхность возникает астигматизм, который равен разнице между рефракциями в двух основных меридианах.

В случае отклонения светового луча 1 на угол после прохождения через смотровой элемент он будет обладать призматическим действием , где

(пр. дптр).

Если отклонение светового луча измеряют в плоскости на расстоянии от светофильтра, то из рисунка 10

,

где - расстояние между двумя параллельными лучами 1 и 2 перед образцом;

- расстояние между точками пересечения преломленными лучами плоскости измерения.

Примечание - Указанные рекомендации носят справочный характер. Также могут быть использованы другие методы, позволяющие получить результаты, эквивалентные результатам, полученным с помощью описанного метода. Например, для измерения указанных локальных изменений рефракции можно использовать диоптриметр, если с его помощью могут быть получены эквивалентные результаты.