ГОСТ ISO 12311-2020 Средства индивидуальной защиты глаз. Очки солнцезащитные и аналогичные. Методы испытаний

     8.3 Метод определения локальных отклонений рефракции

8.3.1 Принцип

В данном методе испытаний происходит сканирование испытуемого светофильтра параллельным лучом света номинальным диаметром 5 мм; отклонение луча детектируется фотодиодом, и полученный график отклонения от точки падения на светофильтре используют для измерения значения сферической рефракции и астигматизма в меньших зонах, чем метод с применением зрительной трубы (см. 8.1). Точность измерения должна быть выше 10 дптр (м). Принципиальная схема этого метода приведена на рисунке 10.

При прохождении параллельных световых лучей 1 и 2 на разной высоте через испытуемый светофильтр со сферическими поверхностями эти лучи пересекаются в задней фокальной плоскости светофильтра на расстоянии от задней главной плоскости светофильтра. Сферическая рефракция светофильтра составляет значение, равное . В светофильтре СИЗ глаз с разной кривизной поверхности в двух взаимно перпендикулярных направлениях или при наклонном падении световых лучей на сферическую поверхность возникает астигматизм, который равен разнице между рефракциями в двух основных меридианах.

В случае отклонения светового луча 1 на угол после прохождения через смотровой элемент он будет обладать призматическим действием , где

(пр. дптр).

Если отклонение светового луча измеряют в плоскости на расстоянии от светофильтра, то из рисунка 10

,

где - расстояние между двумя параллельными лучами 1 и 2 перед образцом;

- расстояние между точками пересечения преломленными лучами плоскости измерения.

Примечание - Указанные рекомендации носят справочный характер. Также могут быть использованы другие методы, позволяющие получить результаты, эквивалентные результатам, полученным с помощью описанного метода. Например, для измерения указанных локальных изменений рефракции можно использовать диоптриметр, если с его помощью могут быть получены эквивалентные результаты.

1 - луч 1;

 2 - луч 2; 3 - измерительная плоскость; 4 - испытуемый светофильтр; - фокусное расстояние светофильтра; - расстояние между параллельными лучами 1 и 2; - расстояние между точками пересечения преломленными лучами 1 и 2 плоскости измерения; - расстояние между испытуемым светофильтром и измерительной плоскостью; - угол отклонения осевого луча 1; - отклонение осевого луча от оптической оси в плоскости измерения

     
Рисунок 10 - Определение расстояния фокальной плоскости от испытуемого светофильтра с помощью двух параллельных лучей 1 и 2

8.3.2 Оборудование

Устройство для определения расстояния содержит нижеприведенные основные элементы (см. рисунок 11).

8.3.2.1 Лазер, обеспечивающий параллельный луч света с длиной волны (600±70) нм.

8.3.2.2 Две линзы с диафрагмой в общей фокусной точке для расширения лазерного луча до номинального диаметра 5 мм (средний размер зрачка).

8.3.2.3 Каретка для непрерывного перемещения испытательного светофильтра по спиральной траектории в плоскости, перпендикулярной направлению лазерного луча. Во время измерения испытуемый светофильтр не должен поворачиваться относительно фотодиода. Каретка движется по двум направляющим, перпендикулярным друг другу, сохраняя постоянными направления осей каретки и испытуемого светофильтра во время измерения. Шарнир, направляемый спиралью, передает соответствующее движение на каретку. Номинальный шаг спирали - 1,08 мм.

Лазерный луч диаметром 5 мм непрерывно сканирует испытуемую область, отцентрованную по контрольной точке, или области, которые определены как имеющие местные неоднородности (см. 6.2 в ISO 12312-1:2013). С помощью соответствующей маркировки можно четко определить положение светового луча на светофильтре и его отклонение. Весь измерительный луч диаметром 5 мм должен находиться в области измерения диаметром 20 мм. Периферийная зона шириной 5 мм по краю светофильтра должна быть исключена из испытания.

8.3.2.4 Датчик положения (фотодиод) (см. рисунок 12) для измерения отклонения лазерного луча (см. рисунок 11). На этом фотодиоде (например, PIN SC 252) прямоугольная система координат обеспечена пятью электродами. Когда центральный электрод 5 освещен, фототок в остальных электродах одинаков. Когда световое пятно перемещается по чувствительной поверхности, фототок электродов 1-4 изменяется в соответствии с положением светового пятна по отношению к центру.

________________

PIN SC 25 является торговым наименованием продукта, поставляемого UDT sensor Inc., Хоторн, Калифорния, США. Эта информация предоставлена для удобства пользователей настоящего стандарта. Допускается применение аналогичного оборудования, если доказано, что оно приводит к тем же результатам.