Методика измерения уровней освещенности, создаваемой осветительными приборами внутреннего и наружного освещения и производственными огнями
При проверке внутреннего и наружного маскировочного освещения следует установить соответствие фактических уровней освещенности различных поверхностей, просматриваемых из верхней полусферы, допустимым уровням освещенности в режимах частичного затемнения и ложного освещения, как указано в 5.1.1.6, 5.1.1.7, 5.1.4.4 и 5.1.4.5.
Перед измерением освещенности необходимо убедиться в том, что прямой световой поток осветительных приборов внутреннего и наружного освещения не попадает в верхнюю полусферу. Проверка осуществляется визуальным осмотром осветительных приборов и их расположения относительно кронштейнов и подвесов.
В соответствии с размещением освещенной поверхности в пространстве приемная пластина фотоэлемента должна располагаться на этой поверхности горизонтально, вертикально или наклонно в том месте, где необходимо измерить освещенность.
Положение гальванометра люксметра при измерениях должно быть горизонтальным. Не рекомендуется устанавливать гальванометр на металлические поверхности. Если диапазон измеряемой величины неизвестен, то переключатели пределов во избежание зашкаливания гальванометра устанавливаются на наибольший предел. Затем, при необходимости, чувствительность гальванометра увеличивают путем переключения пределов и изменения насадок.
При измерении освещенности необходимо следить за тем, чтобы на приемную пластину фотоэлемента не попадали тени от человека или оборудования. Измерения необходимо производить в ночное время.
При проверке наружного маскировочного освещения измерения освещенности производятся на горизонтальной освещаемой поверхности непосредственно под осветительным прибором. При нахождении вблизи осветительного прибора освещенных вертикальных и наклонных поверхностей освещенность измеряется и на них.
При проверке внутреннего освещения измерения освещенности производятся:
- по оси установки осветительных приборов внутреннего освещения - непосредственно под осветительным прибором, на полу между осветительными приборами, на рабочих поверхностях и на наиболее освещенных частях оборудования;
- у световых проемов - с внутренней стороны помещения на горизонтальной поверхности;
- снаружи здания - в наиболее освещенной части светового пятна на поверхности земли за оконным проемом.
При комбинированном освещении рабочих мест сначала измеряется освещенность от осветительных приборов общего освещения, затем суммарная освещенность от осветительных приборов местного освещения и осветительных приборов общего освещения. Число контрольных точек, в которых измеряется освещенность, должно быть не менее 10.
В современных больших многопролетных зданиях освещенность от осветительных приборов общего освещения измеряется в каждом пролете здания, на его торцах и в центральной части.
Для увеличения точности необходимо измерять одну и ту же освещенность не менее трех раз и усреднять полученные результаты. Учитывая значительную зависимость светового потока от напряжения сети, при измерениях освещенности каждый раз следует контролировать значение напряжения осветительной сети. При отличии значения напряжения сети более чем на 10% от номинального измерения повторяются. Перед измерением должны быть произведены чистка осветительных приборов и замена неисправных ламп., Результаты измерений освещенности заносятся в журнал, в котором должна быть приведена и схема осветительных установок с нанесенными контрольными точками.
Журнал может заполняться по следующему образцу:
Организация | |||||||||
Цех | |||||||||
Тип осветительного прибора | |||||||||
Мощность источника света | |||||||||
Дата измерения освещенности | |||||||||
Напряжение сети, В | |||||||||
Номер контрольной точки | Измеренное значение освещенности, лк, при освещении | Нормированное значение освещенности, лк, при освещении | ||
комбинированном | общем | комбинированном | общем | |
1 | ||||
2 | ||||
3 |
Приведенная выше методика полностью применима для измерения освещенности, создаваемой световым излучением промышленных агрегатов, направленным в нижнюю полусферу. В этом случае освещенность измеряют в наиболее светлых местах горизонтальных и вертикальных поверхностей, на которые попадает это излучение.