5.1 Измерение рабочего отрезка и заднего отрезка объективов, работающих из бесконечности, проводят на установке, принципиальная схема которой приведена на рисунке 1.
Измерение рабочего отрезка и заднего отрезка объективов, работающих с конечного расстояния, проводят на установке, принципиальная схема которой приведена на рисунке 2.
Примечания
1 При измерении заднего отрезка объектива на установке, принципиальная схема которой приведена на рисунке 1, его значение будет соответствовать заднему фокальному отрезку.
2 Допускается измерение коллиматорных объективов и микрообъективов, скорректированных на длину тубуса "бесконечность", в обратном ходе лучей. В этом случае будет измерен рабочий отрезок как расстояние от опорного торца испытуемого объектива до его плоскости предмета.
3 Допускается измерение заднего отрезка объектива, работающего с конечного расстояния на конечное, на установке, принципиальная схема которой приведена на рисунке 1, если это установлено в ТД на объектив.
5.2 Вместо схемы линзового коллиматорного объектива, приведенной на рисунке 1, допускается использовать схему с зеркальным или зеркально-линзовым коллиматорным объективом. При необходимости в состав установки вводят плоское зеркало.
1 - единое амортизационное основание; 2 - фокальный узел, в состав которого входят источник излучения, конденсор, светофильтр, тест-объект (коллиматорная диафрагма, сетка, шкала, мира); 3 - коллиматорный объектив; 4 - объективодержатель с испытуемым объективом; 5 - плоскость изображения испытуемого объектива; 6 - станина с продольными направляющими; 7 - трехкоординатное устройство; 8 - анализирующий узел; 9 - регистрирующая аппаратура; 10 - поворотное устройство (при необходимости)
Рисунок 1 - Принципиальная схема установки для измерений рабочего и заднего отрезков объективов, работающих из бесконечности
1 - единое амортизационное основание; 2 - предметный узел, в состав которого входят источник излучения, конденсор, светофильтр, тест-объект (предметная диафрагма, сетка, шкала, мира); 3 - объективодержатель с испытуемым объективом; 4 - плоскость изображения испытуемого объектива; 5 - станина с продольными направляющими; 6 - трехкоординатное устройство; 7 - анализирующий узел; 8 - регистрирующая аппаратура