3.3.1 Стабилизация освещением
Стабилизацию электрических характеристик испытуемых образцов освещением рекомендуется проводить под имитатором солнечного излучения.
3.3.1.1 Испытательное оборудование
Испытательное оборудование для измерения ВАХ по 4.2, а также активная нагрузка, обеспечивающая работу испытуемого образца вблизи точки его максимальной мощности, или электронное устройство слежения за точкой максимальной мощности. Для стабилизации при естественном солнечном освещении рекомендуется использовать устройство слежения за точкой максимальной мощности.
Для обеспечения облучения испытуемых образцов во время выдержки при освещении может использоваться имитатор солнечного излучения класса ССС или выше.
Для измерения ВАХ при начальной, конечной стабилизации и в процессе выполнения всей программы испытаний по настоящему стандарту рекомендуется использовать один и тот же имитатор солнечного излучения.
Примечание - Если для проведения начальной, конечной стабилизации и/или измерения ВАХ использовали не один и тот же имитатор солнечного излучения, это должно быть отмечено в протоколе испытаний, и должна быть приведена информация о различиях имитаторов, позволяющая обеспечить сопоставимость результатов измерений и оценить их точность.
3.3.1.2 Проведение стабилизации
1) Устанавливают испытуемые образцы, подключают испытательное оборудование и измеряют ВАХ, как указано в 4.2, при выбранных условиях по энергетической освещенности и температуре или при стандартных условиях испытаний (СУИ). Определяют максимальную мощность испытуемых образцов.
Рекомендуется измерять ВАХ при СУИ, под имитатором солнечного излучения.
Значение температуры испытуемых образцов должно быть выбрано таким образом, чтобы его можно было воспроизвести с точностью ±2,0°С на всех последующих этапах стабилизации.
Допустимый диапазон значений температуры испытуемых образцов при проведении стабилизации с использованием имитатора солнечного излучения составляет (50±10)°С. При проведении стабилизации при естественном солнечном освещении допустимый диапазон температуры испытуемых образцов определяется технологией их изготовления и установлен в ГОСТ Р 56980.1.3 или ГОСТ Р 56980.1.4 (см. также [1] и [2]).
2) Подключают к испытуемым образцам активную нагрузку или устройство слежения за максимальной мощностью.
3) Подвергают рабочие поверхности испытуемых образцов выдержке при освещении не менее двух раз. Суммарная энергетическая экспозиция каждого раза определяется технологией изготовления образцов и указана в ГОСТ Р 56980.1.3 или ГОСТ Р 56980.1.4 (см. также [1] и [2]).