В настоящем стандарте применены следующие сокращения:
ATE - вспомогательное тестовое оборудование (auxiliary testing equipment);
DUT - тестируемое устройство (device under test);
IUT - тестируемая реализация (implementation under test);
MIB - база управляющей информации (management information base);
OD - словарь объектов (object dictionary);
SAPs - точки доступа к службам (service access points);
SUT - тестируемая система (system under test);
TA - агент тестирования (test agent);
TAP - процесс приложения тестирования (testing application process);
TDSs - службы данных тестирования (testing data services);
TM - тестовый модуль (test module);
TMR - менеджер тестирования (test manager);
TMSs - службы управления тестированием (testing management services);
VO - объект представления (view object).