Статус документа
Статус документа

ГОСТ Р 58809.2-2020 (МЭК 61730-2:2016) Модули фотоэлектрические. Оценка безопасности. Часть 2. Методы испытаний

     10.7 Измерение сопротивления изоляции

10.7.1 Назначение

Испытание предназначено для проверки, достаточно ли хорошо токоведущие части испытуемого фотоэлектрического модуля изолированы от доступных частей и доступных проводящих частей.

10.7.2 Проведение испытания

Испытание проводят по ГОСТ Р 56980.2-2020, 4.3.

Испытательное напряжение определяется классом испытуемого образца по способу защиты от поражения электрическим током и максимально допустимым номинальным напряжением постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен испытуемый образец (см. таблицу 2).

Таблица 2 - Испытательное напряжение при измерении сопротивления изоляции

Класс по способу защиты от поражения электрическим током

Испытательное напряжение, В

0

1000 В плюс двукратное максимально допустимое номинальное напряжение постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен испытуемый образец

II

2000 В плюс четырехкратное максимально допустимое номинальное напряжение постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен испытуемый образец

III

500 В


Если в испытуемых фотоэлектрических модулях соединение лицевого и тыльного покрытий является непроницаемым соединением, в соответствии с требованиями ГОСТ Р 58809.1-2020, 8.3.5.2, испытание проводят при испытательном напряжении в 1,35 раза большем, чем испытательное напряжение, указанное в таблице 2.

10.7.3 Оценка результатов испытания

Испытанные образцы считают выдержавшими испытания, если:

- отсутствуют видимые функциональные повреждения, указанные в разделе 8;

- при проведении испытания не было пробоя изоляции и поверхностного пробоя;

- у испытуемых образцов с площадью рабочей поверхности не более 0,1 м значение сопротивления изоляции не менее 400 МОм;

- у испытуемых образцов с площадью рабочей поверхности более 0,1 м произведение измеренного сопротивления изоляции на площадь поверхности испытуемого образца не менее 40 МОм·м.