ГОСТ Р 58809.2-2020 (МЭК 61730-2:2016) Модули фотоэлектрические. Оценка безопасности. Часть 2. Методы испытаний

     10.9 Проверка защиты от доступа к опасным токоведущим частям

10.9.1 Назначение

Испытание предназначено для проверки, обеспечена ли в фотоэлектрическом модуле необходимая защита от доступа к опасным токоведущим частям.

Испытание проводят перед и после испытаний на воздействие внешних факторов (см. рисунок 1). Испытание может быть проведено также после любого испытания, если есть основания полагать, что токоведущие части могли быть обнажены в ходе проведения испытания.

10.9.2 Испытательное оборудование

a) Испытательный щуп 11 в соответствии с ГОСТ Р МЭК 61032-2000, рисунок 7.

b) Омметр или прибор для определения обрывов цепи.

10.9.3 Проведение испытания

1) Устанавливают испытуемый образец в соответствии с рекомендациями изготовителя, устанавливают на испытуемом образце все компоненты, которые должны быть установлены на нем в соответствии с рекомендациями изготовителя, и подключают все проводники, электрические соединители и т.п., которые будут подключены к испытуемому образцу во время эксплуатации.

2) Устанавливают перемычку между выводами испытуемого образца и соединяют их с омметром или прибором для определения обрывов цепи.

Соединяют омметр или прибор для определения обрывов цепи с испытательным щупом.

3) Удаляют все детали, которые можно удалить без применения инструмента.

4) С помощью испытательного щупа прикладывают усилие 10 Н ±5% к участкам внутри и вокруг распределительной коробки, всех электрических соединителей и к любым другим участкам, где возможен доступ к токоведущим частям испытуемого образца. При этом следят за показаниями омметра или прибора для определения обрывов цепи, для того чтобы определить, возникает ли электрический контакт испытательного щупа с опасными токоведущими частями испытуемого образца.

10.9.4 Оценка результатов испытания

Испытанные образцы считают выдержавшими испытания, если:

- при проведении испытания сопротивление между испытательным щупом и токоведущими частями испытуемого образца не ниже 1 МОм;

- при проведении испытания испытательный щуп не соприкасался с токоведущими частями испытуемого образца.