ГОСТ Р 56980.1-2020 (МЭК 61215-1:2016) Модули фотоэлектрические. Оценка соответствия техническим требованиям. Часть 1. Требования к испытаниям

     4 Порядок проведения испытаний

Общий порядок проведения испытаний показан на рисунке 1.

Методы испытаний описаны в ГОСТ Р 56980.2. Особенности проведения испытаний фотоэлектрических модулей, изготовленных по отдельным технологиям, установлены в частях ГОСТ Р 56980.1, например для фотоэлектрических модулей на основе кристаллического кремния - в ГОСТ Р 56980.1-1 (см. также [3]).

Примечание - Обозначения испытаний по настоящему стандарту, принятые в примененном международном стандарте (см. также [9]), номера подразделов с описанием соответствующих методов испытаний в действовавшем до вступления в силу настоящего стандарта ГОСТ Р 56980-2016 и ГОСТ Р МЭК 61646, а также обозначения испытаний на соответствие требованиям безопасности, указанные в [10], приведены в приложении А.

Если предполагается проводить стабилизацию по альтернативному методу, и это допустимо для модулей данного типа в соответствующей части ГОСТ Р 56980.1 (см. также [3]), до проведения начальной стабилизации выполняют проверку применимости альтернативного метода стабилизации, на трех фотоэлектрических модулях (см. ГОСТ Р 56980.2-2020, 3.3.2).

После начальной стабилизации и измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) при стандартных условиях испытаний (СУИ) по ГОСТ Р 56980.2-2020, 4.2.3, проверяют соответствие максимальной мощности, напряжения холостого хода и ток короткого замыкания каждого испытуемого образца при СУИ значениям, указанным изготовителем на паспортной табличке и в технической документации.

Примечание - Указано минимально необходимое количество испытуемых образцов.

________________

До четырех модулей, в зависимости от того, одновременно ли проводят заключительные испытания образцов, испытанных по последовательности C-E, может быть необходимо.

Если испытание на стойкость к местному перегреву и последующее испытание шунтирующих/блокирующих диодов проводят отдельно, может быть достаточно одного модуля.

Модули, на которых проверяли альтернативный способ стабилизации, если такая проверка проводилась.

Испытание может быть пропущено, если фотоэлектрические модули данного типа были испытаны согласно ГОСТ Р МЭК 61853-1. В этом случае BAX, измеренная при испытаниях по ГОСТ Р МЭК 61853-1, должна быть внесена в протокол испытаний.

Рисунок 1 - Общий порядок проведения испытаний

Если проводилась проверка альтернативного способа стабилизации, для испытаний по последовательности A используют фотоэлектрические модули, на которых проводили проверку.

Испытуемые образцы, прошедшие испытания по последовательности A, используют в качестве контрольных при заключительных испытаниях образцов, прошедших испытания по последовательностям C-E и первые два испытания по последовательности B.

В общем случае все образцы, испытанные по последовательностям C-E, проходят конечную стабилизацию и заключительные испытания одновременно, и по последовательности A испытывают два образца, как показано на рисунке 1. Из-за ограничений по условиям проведения испытаний (например, невозможность совместить испытание образцов, испытанных по разным последовательностям из-за разного времени завершения испытаний) или по требованию заказчика допускается проводить конечную стабилизацию и заключительные испытания образцов, испытанных по последовательностям C-E, не одновременно, и для каждой конечной стабилизации и заключительных испытаний, проводимых отдельно, используют один контрольный образец.

Для оценки стойкости испытуемых фотоэлектрических модулей к местному перегреву вместо всех испытаний по последовательности B допускается выполнить отдельно испытание на стойкость к местному перегреву и последующее испытание шунтирующих диодов на работоспособность с отдельным испытуемым образцом, прошедшим все начальные испытания. В этом случае конечная стабилизация и измерение BAX при СУИ, показанные на рисунке 1 в последовательности B, могут быть объединены с конечной стабилизацией и измерением BAX при СУИ образцов, испытанных по последовательностям C-E. При этом, если конечную стабилизацию и заключительные испытания всех образцов, испытанных по последовательностям B-E, проводят одновременно, используют один контрольный образец и для испытания по последовательности A достаточно одного фотоэлектрического модуля.

Измерение BAX в условиях низкой энергетической освещенности (УНО) в последовательности A может быть пропущено, если испытуемые фотоэлектрические модули данного типа были испытаны в соответствии с ГОСТ Р МЭК 61853-1. В этом случае в протоколе испытаний должна быть приведена BAX при УНО, измеренная по ГОСТ Р МЭК 61853-1.

Промежуточные контрольные измерения сопротивления изоляции после каждого испытания на воздействие внешних факторов между испытаниями в последовательностях B-E не являются обязательными.

После конечной стабилизации и измерения BAX при СУИ проверяют воспроизводимость для максимальной мощности при СУИ путем сравнения максимальной мощности при СУИ образцов, испытанных по последовательности A, после начальной стабилизации и после конечной стабилизации (см. 7.2.2).

Если для испытаний шунтирующих/блокирующих диодов используют замещающий образец, этот образец не должен пройти другие тесты в последовательности.

Если любое из приведенных на рисунке 1 испытаний выполняется отдельно, вне связи с другими испытаниями, такому испытанию должны предшествовать стабилизация и все начальные испытания, указанные на рисунке 1.

При проведении испытаний следует строго соблюдать инструкции изготовителя по обращению с испытуемыми фотоэлектрическими модулями, их монтажу и подключению.

Условия испытаний приведены в таблице 1. Степень жесткости испытаний, указанная в таблице 1 и в описании испытаний в ГОСТ Р 56980.2-2020, раздел 4, является минимально необходимой для подтверждения соответствия фотоэлектрических модулей техническим требованиям и сертификации фотоэлектрических модулей. По договоренности между испытательной лабораторией и изготовителем фотоэлектрических модулей испытания могут быть проведены при более жестких условиях. В этом случае в протоколе испытаний должны быть зафиксированы факт изменения условий испытаний и условия испытаний.

Таблица 1 - Условия испытаний фотоэлектрических модулей на соответствие техническим требованиям