В настоящем стандарте применены следующие сокращения:
ASIC - проблемно-ориентированная интегральная микросхема;
BITE - встроенное испытательное оборудование;
COT - готовое коммерческое (приобретаемое) изделие;
FEA - анализ конечного элемента;
FFOP - период эксплуатации, свободный от отказов;
FITS - отказ за миллиард часов;
FMEA - анализ видов и последствий отказов;
FMECA - анализ видов, последствий и критичности отказов;
FRACAS - система действий по записям, анализу и устранению отказов;
FTA- анализ дерева неисправностей;
HALT - ускоренные испытания на долговечность (форсированные ресурсные испытания);
IC - интегральная схема;
LCC - стоимость жизненного цикла;
LRU - непосредственно заменяемая единица;
MCTF - математическое ожидание количества циклов до отказа;
MTBF - средняя наработка между отказами;
MTBUR - средняя наработка между периодами восстановления;
MTTF - средняя наработка до отказа;
MTTR - среднее время восстановления;
MTTSC - среднее время до вызова сервисной службы;
MTTSI - среднее время до прерывания на техническое обслуживание;
MTTWC - средняя продолжительность гарантийного периода;
RBD - структурная схема надежности;
RCM - техническое обслуживание, ориентированное на безотказность;
RET - испытания на повышение надежности;
SRU - покупной заменяемый элемент.