ГОСТ Р 58648.2-2019 (МЭК 61853-2:2016) Модули фотоэлектрические. Определение рабочих характеристик и энергетическая оценка. Часть 2. Определение спектральной чувствительности, зависимости характеристик от угла падения и коэффициентов для расчета рабочей температуры

     6.1 Общие положения

Испытания предназначены для определения зависимости выходных характеристик фотоэлектрического модуля от угла падения солнечного излучения (далее - угол падения) на его рабочую поверхность с учетом особенностей конструкции.

Испытания основаны на том, что угол падения - угол между направлением на солнце и нормалью к плоскости рабочей поверхности фотоэлектрического модуля - определяет долю прямой и рассеянной диффузной составляющих энергетической освещенности, которая может быть преобразована фотоэлектрическим модулем в электрическую энергию, и тем самым влияет на выходные характеристики модуля, в частности на его ток короткого замыкания. Помимо особенностей поступления излучения на рабочую поверхность фотоэлектрического модуля на энергетическую освещенность рабочих поверхностей фотоэлектрических элементов влияют свойства конструкции фотоэлектрического модуля, т.е. прохождение излучения через все слои до фотоэлектрических элементов. Это влияние в общем случае различно для различных углов падения. Для учета влияния особенностей конструкции фотоэлектрических модулей данного типа и более точных расчетов их выходных параметров определяют угловое светопропускание.

Испытание может не проводиться для фотоэлектрических модулей с плоской стеклянной рабочей поверхностью при отсутствии какого-либо антиотражающего покрытия на рабочей поверхности. В этом случае угловое светопропускание фотоэлектрического модуля в основном определяется первой границей стекло-воздух и допускается использовать справочные данные о пропускании света через первый раздел стекло-воздух. Рекомендуется проводить испытания, если на лицевой стороне используется структурированное стекло.

Испытания проводят по одному из двух методов: с использованием имитатора солнечного излучения в лабораторных условиях или в натурных условиях при естественном солнечном освещении. Результаты испытаний по обоим методам не обязательно должны совпадать, однако с учетом неопределенностей они должны быть одинаковы. Метод, по которому проводились испытания, должен быть указан в протоколе испытаний.

Измерения проводят по двум взаимно перпендикулярным направлениям изменения угла наклона испытуемого образца. Если известно, что оптические свойства испытуемых образцов полностью симметричны, достаточно выполнить измерения в одну сторону одного направления. Оптические свойства испытуемых образцов считают полностью симметричными, если конструкция испытуемых образцов симметрична по обоим направлениям относительно осей, проходящих через центры противоположных сторон испытуемого образца, испытуемые образцы выполнены из одинаковых фотоэлектрических элементов, использованы одни и те же компоненты над рабочей поверхностью всех фотоэлектрических элементов. Если конструкция испытуемых образцов симметрична, оси вращения совпадают с осями симметрии испытуемого образца.

Для определения температуры испытуемого образца может быть использован альтернативный метод - определение эквивалентной температуры методом измерения напряжения холостого хода по ГОСТ Р МЭК 60904-5. В этом случае измерения, описанные в 6.2.3 и 6.3.4, объединяют с измерениями по ГОСТ Р МЭК 60904-5. Использование указанного метода для определения температуры испытуемого образца должно быть отмечено в протоколе испытаний.

Примечания

1 При выборе способа определения температуры испытуемого образца следует учитывать, что метод, установленный в ГОСТ Р МЭК 60904-5, является наиболее точным на момент выхода стандарта.

2 Если в процессе нагрева средняя температура фотоэлектрического элемента существенно отличается от средней температуры тыльной поверхности модуля, рекомендуется использовать метод определения температуры, установленный в ГОСТ Р МЭК 60904-5.

При испытаниях двусторонних фотоэлектрических модулей или фотоэлектрических модулей с многопереходными фотоэлектрическими элементами следует внести коррективы, учитывающие отличия испытаний таких модулей (см. [1] и [2] соответственно).