ГОСТ Р 58566-2019 Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы испытаний

     5 Требования к аппаратуре

5.1 Определение коэффициента или функции концентрации энергии, функции рассеяния, коэффициента или функции передачи модуляции, фокусного расстояния, диаметра входного зрачка, заднего рабочего и заднего фокального отрезков, проводят на установке с коллиматорным объективом, схема которой приведена на рисунке 1.

     1 - единое амортизационное основание; 2 - коллиматорный объектив; 3 - фокальный узел, в состав которого входят: источник излучения, конденсор, светофильтр, коллиматорная диафрагма; 4 - поворотное устройство со станиной и продольными направляющими; 5 - объективодержатель с испытуемым объективом; 6 - анализирующий узел; 7 - трехкоординатное устройство; 8 - регистрирующая аппаратура

     Рисунок 1 - Схема установки с коллиматором для объективов, работающих из бесконечности

Вместо схемы зеркального коллиматорного объектива, приведенной на рисунке 1, допускается использовать схемы с линзовым или зеркально-линзовым коллиматорным объективом. При необходимости в состав установки вводят плоское зеркало.

Определение коэффициента или функции концентрации энергии, функции рассеяния, коэффициента или функции передачи модуляции, заднего рабочего и заднего фокального отрезков, линейного (поперечного) увеличения испытуемых объективов, работающих с конечного расстояния, проводят на установке без коллиматорного объектива, схема которой приведена на рисунке 2.

Примечания

1 Испытания коллиматорных объективов допускается проводить по схеме с коллиматором (см. рисунок 1), при этом испытуемый коллиматорный объектив устанавливают в обратном ходе лучей (предмет в бесконечности, изображение на конечном расстоянии).

2 Испытания микрообъективов, скорректированных на длину тубуса "бесконечность", допускается проводить в обратном ходе лучей по схеме с коллиматором (см. рисунок 1).

3 Испытания проекционных объективов и микрообъективов допускается проводить в обратном ходе лучей по схеме без коллиматора (см. рисунок 2).

4 Определение характеристик качества изображения телескопических систем (функции рассеяния, коэффициента или функции концентрации энергии, коэффициента или функции передачи модуляции) допускается проводить по схеме с коллиматором (см. рисунок 1) со следующими дополнениями:

- проводят определение характеристик качества фокусирующего объектива (объектива - образца сравнения, технологического объектива), диафрагмированного до светового диаметра телескопической системы и работающего в спектральном диапазоне испытуемой телескопической системы;

- перед фокусирующим объективом устанавливают испытуемую телескопическую систему и проводят определение характеристик качества системы "фокусирующий объектив + испытуемая телескопическая система", полученные результаты позволяют сделать вывод о допустимом уровне снижения характеристик качества испытуемой телескопической системы.

     1 - единое амортизационное основание; 2 - предметный узел, в состав которого входят: источник излучения, конденсор, светофильтр, предметная диафрагма на трехкоординатном (или двухкоординатном) устройстве; 3 - станина с продольными направляющими; 4 - объективодержатель с испытуемым объективом; 5 - анализирующий узел; 6 - трехкоординатное устройство; 7 - регистрирующая аппаратура

     Рисунок 2 - Схема установки без коллиматора для объективов, работающих с конечного расстояния

5.2 Испытуемый объектив и приемник излучения с измерительной диафрагмой (анализирующий узел) должны иметь раздельные подвижки вдоль оптической оси, позволяющие устанавливать испытуемый объектив таким образом, чтобы вертикальная ось поворотного устройства находилась в плоскости входного зрачка испытуемого объектива или вблизи указанной плоскости.

При подготовке установки к испытаниям необходимо проводить контроль заполнения входного зрачка испытуемого объектива при развороте поворотного устройства на полевые углы.

5.3 Абсолютная погрешность измерения угла поворотного устройства должна быть от 2" до 10".

Допускается проводить измерения углов поворота испытуемого объектива с большей погрешностью, если она не вносит доминирующего влияния в суммарную погрешность определения требуемой характеристики, заданной в ТД на испытуемый объектив.