В настоящем стандарте применены термины по ISO 5576, а также следующие термины с соответствующими определениями:
3.1 номинальная толщина t (nominal thickness): Толщина основного металла без учета допусков на изготовление.
3.2 изменение просвечиваемой толщины t (penetration thickness change): Изменение толщины из-за угла прохождения пучка по сравнению с номинальной толщиной.
3.3 просвечиваемая толщина w (penetrated thickness): Толщина материала в направлении пучка излучения, вычисляемая на основе номинальной толщины всех просвечиваемых стенок и измеренная вдоль центральной оси пучка излучения.
3.4 расстояние от объекта контроля до пленки b (object-to-film distance): Расстояние между обращенной к источнику излучения стороной объекта контроля, подвергаемой радиографическому контролю, и поверхностью пленки, измеренное вдоль центральной оси пучка излучения.
3.5 размер источника d (source size): Размер активной части источника излучения или размер фокусного пятна.
Примечание - См. EN 12679 или EN 12543.
3.6 расстояние от источника излучения до пленки SFD/SDD (source-to-film distance): Расстояние между источником излучения и пленкой, измеренное в направлении центральной оси пучка излучения (фокусное расстояние).
Примечание - SFD=f+b,
где f - расстояние от источника излучения до объекта контроля;
b - расстояние от объекта контроля до пленки.
3.7 расстояние от источника излучения до объекта контроля f (source-to-object distance): Расстояние между источником излучения и стороной объекта контроля, обращенной к источнику, измеренное вдоль центральной оси пучка излучения.
3.8 наружный диаметр (external diameter): Номинальный наружный диаметр трубы.