ГОСТ Р 50.05.06-2018 Система оценки соответствия в области использования атомной энергии. Оценка соответствия в форме контроля. Унифицированные методики. Магнитопорошковый контроль

     6 Требования к контролю

6.1 Требования к средствам контроля

6.1.1 Для контроля МП-методом используют следующую аппаратуру:

- универсальные (стационарные, передвижные, переносные) и специализированные МП-дефектоскопы;

- источники освещения или УФ-облучения контролируемой поверхности;

- СИ величины напряженности намагничивающего поля и (или) тока с погрешностью измерения не более 5%, вязкости и концентрации магнитной суспензии, освещенности и облученности контролируемой поверхности;

- размагничивающие устройства и СИ для оценки уровня размагниченности;

- контрольные образцы (аттестованные объекты) для проверки работоспособности МП-дефектоскопов и магнитных индикаторов;

- устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации несплошностей: смотровые оптические приборы и СИ (лупы, бинокулярные стереоскопические микроскопы, зеркала, эндоскопы), телевизионные системы, а также автоматизированные устройства обнаружения, регистрации и обработки изображений, при необходимости входящие в СИ.

6.1.2 Требования к МП-дефектоскопам, являющимся СИ и намагничивающим устройством, должны соответствовать ГОСТ Р 53700. Требования к портативным электромагнитам переменного тока, гибким кабелям, электроконтактам и источникам УФ-излучения следующие:

- устойчивость фильтра к брызгам магнитного индикатора;

- защита работников от опасных воздействий при нерабочем положении установки;

- УФ-облученность УФ-излучения на расстоянии 400 мм от источника - не менее 10 Вт/м;

- освещенность на расстоянии 400 мм от источника - не более 20 лк;

- температура поверхности рукоятки - не более 40°С.

К смотровым кабинам для осмотра объектов контроля при использовании люминесцентных магнитных индикаторов также установлены требования согласно ГОСТ Р 53700.

6.1.3 МП-дефектоскопы выбирают с учетом:

- номенклатуры, конфигурации и размеров объектов контроля;

- требуемого значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля;

- используемого способа МПК;

- требуемой производительности труда;

- технических и экономических возможностей организации.

6.1.4 Для обеспечения высокой выявляемости несплошностей способом остаточной намагниченности с применением соленоида, электромагнита и других рекомендуется использовать источник питания или блок регулирования тока, обеспечивающий при выключении уменьшение намагничивающего тока от максимального значения до минимального измеряемого значения за время не менее 5 с.

6.1.5 Дефектоскопы, в которых намагничивание изделий осуществлено переменным, выпрямленным или импульсным токами, при контроле способом остаточной намагниченности должны обеспечивать выключение тока в момент времени, при котором значение остаточной индукции составляет не менее 0,9 ее максимального значения для данного материала при выбранном режиме.

6.1.6 В эксплуатационной документации на МП-дефектоскопы должны быть указаны:

- возможность контроля способами остаточной намагниченности и/или приложенного магнитного поля;

- значение напряжения питания и потребляемой мощности;

- масса и габаритные размеры;

- рабочие диапазоны значений температуры, влажности и атмосферного давления.