ГОСТ Р 50.05.06-2018 Система оценки соответствия в области использования атомной энергии. Оценка соответствия в форме контроля. Унифицированные методики. Магнитопорошковый контроль

     5 Общие положения

5.1 МПК основан на обнаружении с помощью ферромагнитных частиц магнитных полей рассеяния, возникающих над поверхностными и подповерхностными несплошностями металла объекта контроля при его намагничивании.

Метод предназначен для выявления несплошностей ферромагнитного металла с относительной магнитной проницаемостью не менее 40. Метод не гарантирует выявление несплошностей, плоскости которых параллельны контролируемой поверхности или составляют с ней и направлением намагничивающего поля угол менее 30°, на поверхности объекта с параметром шероховатости более 10 ( 63). Немагнитное покрытие толщиной более 20 мкм затрудняет выявляемость несплошностей.

5.2 МП-метод позволяет контролировать полуфабрикаты, изделия, сварные соединения любых размеров и форм. МП-метод позволяет обнаруживать поверхностные и подповерхностные несплошности: трещины различного происхождения (шлифовочные, ковочные, штамповочные, закалочные, усталостные, деформационные, травильные и др.), флокены, закаты, надрывы, волосовины, расслоения, дефекты сварных соединений (трещины, непровары, шлаковые, флюсовые и окисные включения, подрезы) и др.

5.2.1 Необходимым условием для проведения МПК является наличие доступа к контролируемой поверхности, достаточного для подвода намагничивающих устройств, нанесения индикаторных средств и ее визуального осмотра. При невозможности из-за конструктивных особенностей объекта контроля проводить НК МП-методом дефектоскопии в соответствии с требованиями настоящего стандарта или с применением новых методических решений должна быть применена методика контроля, удовлетворяющая требованиям ГОСТ Р 50.04.07.

5.2.2 Проведение контроля в ночную смену с 0 до 6 ч не допускается.

5.3 Результаты контроля объектов МП-методом дефектоскопии зависят от следующих факторов:

- магнитных характеристик материала объектов;

- формы и размеров объектов контроля;

- вида, местоположения и ориентации выявляемых несплошностей;

- степени доступности зон контроля, особенно в случае контроля объектов, установленных в конструкции изделия;

- шероховатости поверхности;

- наличия и уровня поверхностного упрочнения;

- толщины немагнитных покрытий;

- напряженности магнитного поля и его распределения по поверхности объекта контроля;

- угла между направлением намагничивающего поля и плоскостями выявляемых несплошностей;

- свойств магнитного индикатора;

- способа его нанесения на объект контроля;

- интенсивности магнитной коагуляции порошка в процессе выявления несплошностей;

- способа и условий регистрации индикаторных рисунков выявляемых несплошностей.

Указанные факторы учитывают при разработке технологий МПК объектов.

5.4 Настоящим стандартом установлены три условных уровня чувствительности А, Б и В, соответствующих минимальной ширине условной трещины. Условная трещина определена в соответствии с 3.23. Условные уровни чувствительности приведены в таблице 1. Конкретный условный уровень назначает разработчик НД или КД в зависимости от требуемых размеров подлежащих выявлению несплошностей. Чувствительность метода проверяют на стандартном образце с соответствующей заданному условному уровню шириной раскрытия условной трещины (несплошности) (см. таблицу 1).

5.5 Практическая реализация чувствительности контроля, соответствующей требуемому уровню, может быть достигнута при шероховатости контролируемой поверхности не более указанной в таблице 1. Если объект контроля по условиям изготовления или эксплуатации имеет большую шероховатость, чувствительность контроля уменьшается и условный уровень чувствительности не нормируется.

Таблица 1 - Условные уровни чувствительности

5.6 МПК проводится контролерами по ТКК, в которых указывают как минимум следующие сведения:

- наименование организации-разработчика;