Статус документа
Статус документа

ГОСТ Р 57902-2017 (IEC/TS 62804-1:2015) Модули фотоэлектрические. Испытания на деградацию, вызванную высоким напряжением. Часть 1. Фотоэлектрические модули на основе кристаллического кремния

     4 Порядок проведения испытаний


Последовательность проведения испытаний показана на рисунке 1. Выполнение отдельных этапов испытаний описано в разделах 5-9.

Стандарт устанавливает два метода воздействия высоким напряжением.

В методе A рабочая и тыльная поверхности через влажный воздух климатической камеры соединены с землей, а между торцевыми (заземляемыми) поверхностями и соединенными выводами фотоэлектрического модуля создается разница потенциалов, равная максимально допустимому напряжению постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен испытуемый модуль. В середине рабочей поверхности разность потенциалов между цепями фотоэлектрических элементов и цепями заземления модуля меньше, в результате чего эффекты, вызывающие деградацию, усиливаются ближе к краям модуля. При испытании по этому методу оценивают деградацию, связанную, прежде всего, с:

- ионным переносом в герметизирующей оболочке;

- возникновением электрической проводимости в неровностях и порах покрытий рабочей и тыльной поверхностей фотоэлектрического модуля из-за скопления влаги;

- распределением потенциала земли по стеклянному покрытию рабочей поверхности фотоэлектрического модуля. Как правило, такой потенциал распределяется по стеклянному покрытию неравномерно.

В методе B разницу потенциалов, равную максимально допустимому напряжению постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен испытуемый модуль, создают между всеми поверхностями испытуемого фотоэлектрического модуля и его соединенными выводами, а на стеклянном покрытии рабочей поверхности создают эквипотенциальную поверхность.

При испытании по этому методу оценивают стойкость фотоэлектрических элементов и, частично, влияние на деградацию параметров герметизирующих компонентов, таких как сопротивления стекла и сопротивление герметика. Метод не учитывает то, что конструкция фотоэлектрического модуля может включать компоненты, уменьшающие деградацию за счет сокращения путей токов утечки на землю. Например, при этом методе испытаний снижается защитный эффект деталей конструкции, которые уменьшают контакт модуля с металлическими поверхностями (задние монтажные рейки, краевые зажимы, изолирующие рамы и т.п.).

Примечание - Если испытывают фотоэлектрические модули с несколькими рабочими поверхностями, указанные особенности и требования методов относятся ко всем рабочим поверхностям.


Испытания по обоим методам проводят в стационарном режиме по методу A - при повышенной относительной влажности (85%) и повышенной температуре, по методу B - при нормальной относительной влажности (менее 60%) и нормальной или повышенной температуре.

Максимально допустимое напряжение постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен фотоэлектрический модуль, является максимальным напряжением, которое может возникнуть на фотоэлектрическом модуле при нормальном режиме работы.

Примечание - В настоящее время в технической документации фотоэлектрических модулей при указании максимально допустимого напряжения постоянного тока фотоэлектрической системы, в которую может быть установлен фотоэлектрический модуль, используют термин "системное напряжение" или "максимальное системное напряжение".


Если после выдержки по методу A или методу B снижение мощности не наблюдается, рекомендуется повторить испытания с новыми образцами при более высокой температуре (см. 7.2.1, 7.3.1).

Если необходимо, при начальных и заключительных испытаниях для оценки деградации, кроме максимальной мощности, могут быть определены другие выходные параметры испытуемых образцов, например, напряжение холостого хода, ток короткого замыкания и т.д.

Любые изменения или отклонения в процедурах проведения испытаний должны быть подробно описаны и занесены в протокол испытаний.



Или три модуля, если допустима только одна полярность заземления испытуемых образцов, см. раздел 4, или иное количество, если необходимы испытания с большим количеством образцов для каждой полярности заземления (см. раздел 4).

Необязательные испытания.

По два для положительной и отрицательной полярности заземления испытуемых образцов (или более, см. раздел 4), или два модуля, если допустима только одна полярность заземления.

См. примечание к выполнению визуального контроля в разделе 9.

Испытание выполняют, если его проводили при начальных испытаниях.

Примечание - Схема показана для проведения испытаний по одному из методов, установленных в разделе 7, при одной из температур условий испытаний.

Рисунок 1 - Порядок проведения испытаний на деградацию, вызванную высоким напряжением, фотоэлектрических модулей на основе кристаллического кремния