Доступные базы данных интенсивности отказов
Е.1 Базы данных
Следующая библиография представляет собой не исчерпывающий перечень в производном порядке источников данных интенсивности отказов для электронных и неэлектронных компонентов. Следует отметить, что эти источники не всегда согласуются друг с другом, и поэтому следует соблюдать осторожность при использовании данных.
IEC/TR 62380 Справочник данных по надежности. Универсальная модель для прогнозирования надежности электронных компонентов, печатных плат (РСВ) и оборудования
Стандарт Siemens SN 29500 Интенсивность отказов компонентов (части 1-14); Siemens AG, CT SR SI, Отто-Хан-Ринг 6, D-81739, Мюнхен
Telcordia SR-332, выпуск 01: май 2001 Методики прогнозирования безотказности для электронного оборудования (telecom-info.telcordia.com), (Bellcore TR-332, выпуск 06)
EPRD (RAC-STD-6100) Данные безотказности электронной аппаратуры. Центр анализа надежности информации, 201 Mill Street, Рим, Нью-Йорк 13440
NNPRD-95 (RAC-STD-6200) Информация о надежности неэлектронных частей, Центр анализа надежности информации, 201 Mill Street, Рим, Нью-Йорк 13440
HRD5 Британское руководство по надежности информации для компонентов, используемых в телекоммуникационных системах, British Telecom
Китайский военный/промышленный стандарт GJB/г 299В Прогнозирование методики безотказности электронного оборудования (Http://www.itemuk.com/china299b.html)
ISBN:0442318480 Руководство по безотказности American Telephone & Telegraph Co. (AT&T). Klinger, David J., Yoshinao Nakada и Maria A.Menendez, редакторы, Руководство по безотказности American Telephone & Telegraph Co., Van Nostrand Reinhold, 1990
FIDES: январь 2004 г. Руководство по безотказности данных, разработанное консорциумом ассоциации французской промышленности под руководством Министерства обороны Франции. FIDES предоставляется по запросу на fides@innovation.net
IEEE Gold book Золотая книга IEEE. Рекомендованные правила IEEE для разработки надежных, промышленных и коммерческих силовых систем. Предоставляются данные о надежности оборудования, используемого в промышленных и коммерческих системах распределения энергии. Центр обслуживания клиентов IEEE, 445 Hoes Lane, п/я 1331, г.Пискатауэй, Нью-Джерси, 08855-1331, США, Телефон: +1 800 678 IEEE (в США и Канаде), +1 732 981 0060 (за пределами США и Канады), Факс: +1 732 981 9667, электронная почта: customer.service@ieee.org
IRPH ITALTEL Руководство по прогнозированию надежности. Руководство IRPH ITALTEL предоставляется по запросу: Dr. G Turconi, Direzione , Italtel Sit, CC1/2 Cascina Castelletto, 20019 Settimo Milanese Mi, Италия. Это версия итальянских телекоммуникационных компаний CNET RDF. Стандарты основаны на одном и том же наборе данных с некоторыми изменениями в процедурах и факторах
PRISM (RAC/EPRD) Программное обеспечение PRISM можно заказать по указанному ниже адресу, или может быть включено в некоторые коммерчески доступные пакеты программного обеспечения надежности: Центр анализа надежности, 201 Mill Street, Рим, Нью-Йорк 13440-6916, США
Е.2 Полезные стандарты, касающиеся отказа компонента
Следующие стандарты содержат информацию в отношении отказа компонента:
МЭК 60300-3-2 Управление общей надежностью. Часть 3-2. Руководство по применению. Сбор данных по общей надежности с места эксплуатации
МЭК 60300-3-5 Управление общей надежностью. Часть 3-5. Руководство по применению. Условия испытаний на надежность и принципы статистической проверки гипотез
МЭК 60319 Представление и спецификация данных о надежности электронных компонентов
МЭК 60706-3 Ремонтопригодность оборудования. Часть 3. Верификация и сбор, анализ и представление информации
МЭК 60721-1 Классификация внешних условий. Часть 1. Параметры окружающей среды и их жесткости
МЭК 61709 Компоненты электронные. Надежность. Стандартные условия для интенсивностей отказов и нагрузочные модели для преобразования
МЭК 62061:2005 Безопасность оборудования. Функциональная безопасность систем управления электрических, электронных и программируемых электронных, связанных с безопасностью
Примечание - Дополнительная информация о режимах отказа электрических/электронных компонентов приведена в приложении D.