Упрощенный метод измерения для оценки воздействия теплового действия инфракрасного излучения
EE.1 Общие положения
Во многих случаях можно использовать гораздо более простую и менее затратную методику измерения по сравнению с измерением яркости или освещенности с использованием спектрометра или монохроматора. Если спектральные характеристики излучения инфракрасных излучателей или спектральные характеристики излучения нагретых поверхностей оборудования или горячих заготовок известны, а именно:
- известна температура инфракрасных излучателей, а также всех других поверхностей, вносящих основной вклад в эмиссию излучения;
- известно спектральное и - если это применимо - тепловое изменение излучательной способности этих поверхностей; и
- известны спектральные характеристики пропускания окон и применяемых фильтров,
то спектральная характеристика эмиссии может быть рассчитана только на основании известной температуры поверхности, следовательно, изложенная ниже методика корректна и может быть использована.
Примечание - Данная методика не подходит для оценки поглощения или испускания атмосферными или технологическими газами.
Методика получения целевого результата измерения, в зависимости от освещенности или взвешенной яркости, состоит из последовательных шагов, приведенных в таблице EE.1.
Таблица EE.1 - Процедура измерения
Шаг | Измерение освещенности по и , см. таблицу AA.2 и рисунок AA.1 | Измерение яркости по и , см. таблицу AA.3 и рисунок AA.2 |
a) | Построить таблицу преобразования измеренной полной освещенности в значения яркости спектральных полос - см. EE.2 | Построить таблицу преобразования измеренной полной яркости в значения взвешенной яркости спектральных полос - см. EE.4 |
b) | Использовать измерительное устройство, способное измерять полную освещенность (приложение FF), и откалибровать измерительное устройство для измерения полной освещенности | Использовать измерительное устройство, способное измерять полную яркость, и откалибровать измерительное устройство для измерения полной яркости |
c) | Измерить полную освещенность во всех соответствующих позициях (см. приложение BB) | Измерить полную яркость во всех соответствующих позициях (см. приложение BB) |
d) | Вместе с измерением освещенности документировать следующую информацию: местоположение и ориентация детектора; поверхности, испускающие инфракрасное излучение, способствующее образованию сигнала, их размер и ориентация | Вместе с измерением яркости документировать следующую информацию: местоположение и ориентация детектора; поверхности, испускающие инфракрасное излучение, способствующее образованию сигнала, их стягиваемый угол и ориентация |
e) | Использовать таблицу из шага а) для преобразования измеренной полной освещенности в освещенности IR-A, IR-B и VIS | Использовать таблицу из шага а) для преобразования измеренной полной яркости в яркость IR-A и VIS |
f) | Вывести классы облучения на основе полученных данных |
EE.2 Таблицы преобразования для измерения освещенности
EE.2.1 Общие положения
Полная освещенность определяется как
, (EE.1)
где - освещенность по составляющим спектра;
- полная освещенность.
Если детектор облучается только тепловым излучателем с известной эмиссионной способностью , то освещенность будет прямо пропорциональна этой величине и будет определяться формулой Планка
, (EE.2)
где , - константы;
- описывает все геометрические и другие потери между источником и детектором;
- температура;
- излучательная способность.
Тогда коэффициент преобразования полной освещенности в освещенность в полосе рассчитывают для инфракрасного облучения глаза по формуле
, (EE.3)