ГОСТ Р 56980-2016 (МЭК 61215:2005) Модули фотоэлектрические из кристаллического кремния наземные. Методы испытаний

     10.4 Определение температурных коэффициентов

10.4.1 Цель

Целью настоящих испытаний является определение температурных коэффициентов тока, напряжения и максимальной мощности.

Температурные коэффициенты определяются на основе измерений выходных параметров испытуемого образца при не менее чем пяти разных значениях температуры испытуемого образца в диапазоне изменения температуры не менее 30°С. Определенные таким образом коэффициенты верны при той энергетической освещенности, при которой проводились измерения. Определение температурных коэффициентов испытуемого образца при других уровнях энергетической освещенности выполняется в соответствии с ГОСТ Р МЭК 60904-10 и ГОСТ Р МЭК 60891. Общие требования к проведению настоящих испытаний соответствуют требованиям ГОСТ Р МЭК 60904-1.

10.4.2 Испытательное оборудование

Для проведения испытаний требуется такое же испытательное оборудование, как и для определения максимальной мощности по 10.2.

10.4.3 Измерения при естественном солнечном освещении

Измерения при естественном солнечном освещении проводят, только если значение суммарной энергетической освещенности составляет не менее 800 Вт/м, колебания суммарной энергетической освещенности во время измерений составляют не более ±1% и скорость ветра не превышает 2 м/с.

Примечание 1 - Когда данные о спектральном распределении энергетической освещенности отсутствуют, требуется тщательно проверить совпадение спектральных характеристик эталонного прибора и испытуемого образца, а также условий по воздушной массе. Измерения необходимо проводить в ясный солнечный день (при отсутствии видимых облаков вокруг солнца и доле диффузной составляющей в солнечном излучении не более 30%).

Примечание 2 - Для уменьшения влияния изменений спектрального распределения энергетической освещенности описанные ниже измерения следует проводить настолько быстро, насколько это возможно в пределах нескольких часов одного дня. Если это невыполнимо, следует вводить спектральные поправки.

1) Устанавливают эталонный прибор и испытуемый образец на двухосевом следящем устройстве как можно ближе друг к другу таким образом, чтобы рабочие поверхности эталонного прибора и испытуемого образца были компланарны. Рабочие поверхности обоих приборов должны быть перпендикулярны прямым солнечным лучам в пределах угла падения ±5°. Подключают необходимое измерительное оборудование.

При определении температуры испытуемого образца с помощью непосредственных измерений температура измеряется в четырех точках на его поверхности, не освещаемой солнцем, и берется среднее значение. Расположение точек показано на рисунке 2. Каждая точка измерения должна находиться непосредственно за солнечным элементом.

2) Если испытуемый образец и эталонный прибор снабжены средствами регулирования температуры, устанавливают требуемое значение температуры.

Если такое регулирование температуры не может быть использовано, то:

- защищают испытуемый образец и эталонный прибор от солнца и ветра, ждут, когда температура образца и эталонного прибора установятся на уровне температуры окружающей среды с отклонением в пределах ±2°С, или

- ждут, пока температуры испытуемого образца и эталонного прибора стабилизируются, или

- охлаждают испытуемый образец до уровня ниже требуемой температуры испытаний, после чего дают им нагреться до требуемого значения температуры естественным путем.

Примечание - В процессе нагрева средняя температура элемента может отличаться от средней температуры тыльной поверхности испытуемого образца. В этом случае может быть использован метод определения температуры, установленный в ГОСТ Р МЭК 60904-5 или в 10.5.

Рисунок 2 - Размещение точек измерения температуры на неосвещенной солнцем поверхности испытуемого образца

3) После того как температура испытуемого образца достигнет требуемого значения, удаляют защитный экран (если он используется) и в течение минимально возможного времени измеряют ВАХ и температуру испытуемого образца, ток короткого замыкания и температуру эталонного прибора, спектральное распределение энергетической освещенности с помощью спектрорадиометра (если эталонный прибор не используется или его спектральная чувствительность не соответствует спектральной чувствительности испытуемого образца).

4) Необходимо контролировать, чтобы в течение регистрации всех данных одной точки ВАХ температура испытуемого образца и температура эталонного прибора оставались постоянными с отклонением в пределах ±1°С, а энергетическая освещенность, измеряемая эталонным прибором, оставалась постоянной с отклонением в пределах ±1% (колебания, обусловленные облаками, дымкой или дымом).

Примечание - В большинстве случаев тепловая инерция испытуемого образца и эталонного прибора в течение нескольких секунд не позволит температуре подняться более чем на 2°С. Их температуры будут оставаться в достаточной степени одинаковыми.

5) Повторяют этапы 2)-4) для первого значения температуры испытуемого образца еще не менее двух раз.

6) Проводят измерения по этапам 2)-5) еще не менее чем для четырех значений температуры испытуемого образца в диапазоне не менее 30°С, устанавливая значения температуры через приблизительно равные промежутки.

7) Рассчитывают энергетическую освещенность Е по измеренному значению тока короткого замыкания эталонного прибора и его калибровочному значению , измеренному при СУИ. Если температура эталонного прибора во время измерений отличается от температуры, при которой проводилась его калибровка, в уравнение для определения Е вводится поправка, используя температурный коэффициент тока для эталонного прибора (1/°С). Расчет проводят по формуле:

,                                 (1)