Для проведения испытаний отбираются три образца фотоэлектрического модуля.
В тех случаях, когда полноразмерные образцы невозможно поместить в испытательную камеру, допускается применение замещающего образца меньшего размера, специально разработанного и изготовленного для проведения этих испытаний. Замещающий образец должен проявлять те же механизмы разрушения, что и полноразмерный образец, а технология изготовления замещающего образца должна быть максимально приближенной к технологии изготовления полноразмерного модуля.
Если шунтирующий/блокирующий диод(ы) в испытуемом образце недоступен(ы), для проведения испытаний шунтирующих/блокирующих диодов на работоспособность допускается применение специально разработанного и изготовленного замещающего образца, соответствующего требованиям 9.3.2. Данный замещающий образец должен быть подвергнут воздействию аммиаком и не должен принимать участие во всех остальных испытаниях.
Тот факт, что в испытаниях использовались замещающие, а не полноразмерные образцы, должен быть отражен в протоколе испытаний.
Если конструкция модуля включает заземление, оно должно быть частью испытуемых образцов.
Результаты испытаний относятся только к конструкции модулей с теми компонентами, которые были установлены на испытанных образцах. Если изготовитель модуля предполагает использовать один и тот же компонент разных поставщиков, должны быть проведены испытания для всех вариантов компонентов. Образцы следует выбирать таким образом, чтобы в них были представлены все материалы, используемые для герметизации, и все варианты компонентов, составляющих внешнюю поверхность модулей.