Настоящий стандарт устанавливает методики измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков в микроволновом диапазоне частот на основе резонансных методов.
В настоящем стандарте представлены следующие методы измерений:
- объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте;
- объемного резонатора при фиксированной резонансной длине;
- щелевого резонатора;
- металлодиэлектрического резонатора;
- объемного резонатора в закритическом режиме;
- объемного резонатора для стержневых образцов.
Образцы твердых диэлектриков для измерений (далее - образцы) могут иметь форму:
- дисков диаметром D>t, где t - толщина диска;
- пластин (подложек) толщиной t<<А, В , где А, В - длина и ширина прямоугольной пластины (подложки);
- тонких дисков при t<<D;
- цилиндров диаметром D и высотой L при различных отношениях D/L;
- стержней диаметром d, высотой L>>d .
В зависимости от типоразмера образца применяют различные методики измерений и типы резонаторов, приведенные в приложении А.
Для дисковых образцов:
- объемный цилиндрический резонатор с колебанием Н, реализующий метод при фиксированной резонансной частоте;
- объемный цилиндрический резонатор с колебанием Н, реализующий метод при фиксированной длине резонатора;
- объемный цилиндрический резонатор с колебанием H, работающий в закритическом режиме (на частотах ниже критической).
Для пластин, подложек и тонких дисков:
- объемный щелевой резонатор с колебанием Н.
Для цилиндрических образцов:
- металлодиэлектрический резонатор с колебанием Н.
Для стержней:
- объемный цилиндрический резонатор с колебанием Н.
Здесь m=1, 2, 3, р=1, 2, 3 - радиальный и продольный индексы колебания. Размеры применяемых резонаторов и образцов определены диапазоном частот измерения.