ГОСТ Р ИСО 22309-2015 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроанализ электронно-зондовый. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным номером от 11 (Na) и выше

     2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие международные стандарты (для недатированных ссылок следует применять последнее издание приведенных стандартов):

ISO 14594, Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy (Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по определению экспериментальных параметров для волновой дисперсионной спектрометрии)

ISO 15632:2002, Microbeam analysis - Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors (Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами)

ISO 16700, Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification (Растровая электронная микроскопия. Методика определения увеличения изображения)

ISO/IEC 17025:2005, General requirements for the competence of testing and calibration laboratories (Общие требования к компетентности лабораторий, проводящих тестирование и калибровку)