6.1 В ряде случаев могут возникать как изобарические, так и неизобарические мешающие влияния. Наиболее значимыми мешающими влияниями являются совпадающие массы изотопов определяемых элементов и физические (неизобарические) мешающие влияния от матрицы пробы.
Основные изобарические мешающие влияния представлены в таблице 2 (дополнительная информация по мешающим влияниям приведена в приложении ДА). Чтобы обнаружить мешающие влияния, рекомендуется при измерении использовать несколько изотопов данного элемента. Все получающиеся по измерению этих изотопов результаты должны быть схожими. Если для данного элемента невозможно подобрать изотоп, который не подвержен мешающим влияниям, то проводят математическую коррекцию (6.2.2).
Небольшой дрейф или изменения значений сигналов корректируют применением элемента сравнения. В общем случае, чтобы избежать физических и спектральных мешающих влияний, массовая концентрация растворенных веществ не должна превышать 2 г/дм.
Некоторые мешающие влияния не проявляются в условиях холодной плазмы. Однако необходимо принять во внимание неизбежно меньшую стабильность холодной плазмы. Также некоторые мешающие влияния устраняются в реакционной ячейке спектрометра.
Таблица 2 - Основные изобарические мешающие влияния
Элемент | Изотоп | Межэлементные влияния, вызванные изобарами и двухзарядными ионами | Влияния, вызванные многоатомными ионами |
Ag | Ag | - | ZrO |
As | As | - | ArCI, CaCI |
Au | Au | - | TaO |
В | В | - | BH |
Ва | Ва | La, Се | - |
Са | Са | - | CNO |
Са | - | COO | |
Cd | Cd | - | MoO, MoOH, ZrOH |
Cd | Sn | MoO, MoOH | |
Со | Со | - | CaO, CaOH, MgCI |
Cr | Cr | - | ArO, ArC, CIOH |
Cr | Fe | CIO, ArOH | |
Cu | Cu | - | ArNa, POO, MgCI |
Cu | - | SOOH | |
Eu | Eu | - | BaO |
Eu | - | BaO | |
Ga | Ga | Ва++ | CrO, ArP, CIOO |
Ge | Ge | Se+ | ArS, CICI |
In | In | Sn+ | - |
lr | Ir | - | HfO |
Mg | Mg | - | CC |
Mg | - | CC | |
Mn | Mn | - | NaS, ArOH, ArNH |
Mo | Mo | Ru | - |
Ni | Ni | Fe | CaO, CaN, NaCI, MgS |
NI | - | CaO, CaOH, MgCI, NaCI | |
Pd | Pd | Cd | MoO, ZrO |
Pt | Pt | - | HfO |
Re | Re | Os | - |
Ru | Ru | Pd | - |
Sb | Sb | Te | - |
Sc | Sc | - | COO, COOH |
Se | Se | - | CaCI, ArCI, ArArH |
Se | Kr | ArAr, CaCI | |
Se | Kr | - | |
Sn | Sn | Te | - |
V | V | - | CIO, SOH, CIN, ArNH |
W | W | Os | - |
Zn | Zn | Ni | AICI, SS, SOO, CaO |
Zn | Ba | PCI, SS, FeC, SOO | |
Zn | Ba, Ce | FeN, PCI, ArS, FeC, SS. ArNN, SOO | |
Примечание - При высоких значениях массовой концентрации определяемых элементов мешающие влияния могут быть вызваны образованием других многоатомных ионов или двухзарядных ионов, которые не приведены в настоящей таблице. |
6.2 Спектральные мешающие влияния
6.2.1 Подробная информация относительно спектральных мешающих влияний приведена в ДА.2 (приложение ДА).
6.2.2 Изобарические элементные мешающие влияния
Изобарические элементные мешающие влияния вызываются изотопами разных элементов с одним и тем же номинальным значением отношения массы к заряду, которые не могут быть разделены вследствие недостаточной разрешающей способности используемого масс-спектрометра (например, Cd и Sn).
Мешающие изобарические влияния могут быть скорректированы путем учета влияния мешающего элемента (таблица 3). В этом случае изотопы, используемые для коррекции, не должны подвергаться каким-либо мешающим влияниям. Возможные варианты коррекции, как правило, включены в программное обеспечение к прибору.
Таблица 3 - Примеры рекомендуемых изотопов, их относительные массы и корректирующие поправки
Элемент | Рекомендуемый изотоп | Поправка |
As | As | -3,127·[l(Se) - 0,815·l(Se)] или |
Ва | Ва | -0,0009008·l(La) - 0,002825·l(Ce) |
Cd | Cd | -0,02684·l(Sn) |
Ge | Ge | -0,1385·l(Se) |
In | ln | -0,01486·l(Sn) |
Mo | Мо | -0,1106·l(Ru) |
Ni | Ni | -0,04825·l(Fe) |
Pb | Pb | +I(Pb)+I(Pb) |
Se | Se | -1,009·l(Kr) |
Sn | Sn | -0,01344·l(Te) |
V | V | -3,127·[l(Cr)-0,1134·l(Cr)] |
W | W | -0,001242·l(Os) |
- Поправку следует прибавить к значению интенсивности сигнала, соответствующей массе рекомендуемого изотопа (см. уравнение (Д.А.1)). |
6.2.3 Изобарические мешающие влияния за счет многоатомных ионов
Многоатомные ионы образуются из компонентов плазмы, реагентов и матрицы пробы (например, влияние ArCI и CaCI на As). Примеры корректирующих уравнений приведены в таблице 3, а информация о значимости мешающих влияний (выраженной через условную массовую концентрацию определяемого элемента) на примере растворов Na, K, Са, Mg, CI, S, Р (100 мг/дм) и Ва (1000 мкг/дм) - в таблице 4. Мешающее влияние особенно значимо для ряда элементов (например, As, Cr, Se, V).
Рекомендуется регулярная проверка мешающего влияния для конкретного прибора.
В случае математической коррекции с использованием корректирующих поправок (таблица 3) необходимо принять во внимание, что мешающее влияние зависит как от настройки плазмы (например, степени образования оксидов), так и от массовой концентрации мешающего элемента.
Таблица 4 - Значимые мешающие влияния растворов Na, K, Са, Mg, CI, S, Р (100 мг/дм) и Ва (1000 мкг/дм)
Элемент | Изотоп | Условная массовая концентрация, мкг/дм | Тип мешающего влияния многоатомными ионами |
As | As | 1,0 | ArCI |
Co | Co | От 0,2 до 0,8 | СаО, СаОН |
Cr | Cr | 1,0 | ClOH |
1,0 | ArC | ||
Cr | 5,0 | CIO | |
Cu | Cu | От 1,0 до 3,0 | ArNa |
От 1,0 до 1,6 | POO | ||
Cu | 2,0 | ArMg | |
2,0 | POO | ||
2,0 | SOOH | ||
Ga | Ga | От 1,0 до 25 | Ba |
0,3 | ArP | ||
1,0 | CIOO | ||
Ga | От 0,2 до 0,6 | ArP | |
Ge | Ge | 0,3 | CICI |
0,3 | ArS | ||
Mn | Mn | 3,0 | KO |
3,0 | NaS | ||
3,0 | NaS | ||
Ni | Ni | 2,5 | CaO, CaN |
Ni | От 3 до 12 | CaO, CaOH | |
Se | Se | 10 | ArCI |
V | V | От 1 до 5 | ClO, CIN |
1,0 | SOH | ||
Zn | Zn | 7 | ArMg |
3 | СаО | ||
8 | SS, SOO | ||
1 | РООН | ||
Zn | 2,0 | ArMgBa | |
5 | SS, SOO | ||
4 | PCI | ||
2 | Ва | ||
Zn | 50 | ArS, SS, SOO | |
4 | Ва | ||
Мешающее влияние не отмечено вплоть до указанных массовых концентраций, однако следует это проверить для конкретного прибора. |