4.1 Обозначения
- половина ширины распределения возможных значений входной величины; | |
- максимальное отклонение; | |
- уровень значимости; | |
- смещение; | |
- свободный член калибровочной функции; | |
- оценка свободного члена калибровочной функции; | |
- угловой коэффициент калибровочной функции; | |
- оценка углового коэффициента калибровочной функции; | |
- индекс воспроизводимости процесса измерений; | |
- индекс воспроизводимости измерительной системы; | |
- индекс воспроизводимости процесса; | |
- минимальный индекс воспроизводимости процесса; | |
- наблюдаемый индекс воспроизводимости процесса; | |
- фактический индекс воспроизводимости процесса; | |
- интервал от последнего опорного значения, для которого все операторы оценили результат измерений как неудовлетворительный, до первого опорного значения, для которого все операторы оценили результат измерений как удовлетворительный; | |
- интервал от последнего опорного значения, для которого все операторы оценили результат измерений как удовлетворительный, до первого опорного значения, для которого все операторы оценили результат как неудовлетворительный; | |
- средняя длина интервала; | |
- коэффициент охвата; | |
- общее количество повторных измерений на одном образце. Образец может быть стандартным образцом или калиброванным образцом сравнения; | |
- коэффициент охвата в соответствии со свидетельством о калибровке; | |
- измеренная длина; | |
- нижняя граница требований; | |
- максимальная допустимая погрешность измерительной системы (МРЕ-значение); | |
- частоты теста Баукера; | |
- количество стандартных образцов; | |
- количество измерений; | |
- вероятность; | |
- индекс пригодности процесса; | |
- наблюдаемый индекс пригодности процесса; | |
- фактический индекс пригодности процесса; | |
- отношение воспроизводимости процесса измерений для альтернативных способов измерений; | |
- отношение воспроизводимости измерительной системы; | |
- отношение воспроизводимости процесса измерений; | |
- разрешение измерительной системы; | |
- выборочное стандартное отклонение (для воспроизводимости измерительной системы); | |
- температура; | |
- двухстороннее критическое значение -распределения Стьюдента [квантиль распределения Стьюдент уровня ]; | |
- верхняя граница требований; | |
- произведение стандартной неопределенности на коэффициент охвата (расширенная неопределенность); | |
- стандартная неопределенность воспроизводимости измерений оператором; | |
- стандартная неопределенность смещения измерений; | |
- неопределенность результатов калибровки; | |
- стандартная неопределенность максимального значения воспроизводимости или разрешения; | |
- стандартная неопределенность повторяемости по стандартным образцам; | |
- стандартная неопределенность повторяемости по испытываемым частям; | |
- стандартная неопределенность воспроизводимости измерительной системы; | |
- стандартная неопределенность взаимодействий; | |
- стандартная неопределенность линейности системы измерений; | |
- суммарная стандартная неопределенность процесса измерений; | |
- стандартная неопределенность, вычисленная на основе максимальной допустимой погрешности; | |
- суммарная стандартная неопределенность измерительной системы; | |
- стандартная неопределенность других компонентов, не включенных в анализ измерительной системы; | |
- стандартная неопределенность неоднородности испытываемых объектов; | |
- стандартная неопределенность разрешения измерительной системы; | |
- стандартная неопределенность других компонентов, не включенных в анализ процесса измерений; | |
- стандартная неопределенность стабильности измерительной системы; | |
- стандартная неопределенность температуры; | |
- стандартная неопределенность коэффициентов расширения; | |
- стандартная неопределенность перепада температур между рабочим местом и измерительной системой; | |
- неопределенность измерений по альтернативному признаку; | |
- неопределенность калибровки образца сравнения; | |
- неопределенность измерительной системы; | |
- неопределенность процесса измерений; | |
- -ный результат измерений; | |
- среднее арифметическое всех результатов измерений; | |
- среднее арифметическое всех выборочных значений; | |
- -ное значение входной величины; | |
- опорное значение величины. |
4.2 Сокращения
ANOVA - дисперсионный анализ;
DOE - планирование экспериментов;
GPS - геометрические требования;
R&R - повторяемость и воспроизводимость;
GUM - руководство по выражению неопределенности измерения;
МРЕ - максимально допустимая погрешность;
SPC - статистическое управление процессом;
VIM - международный метрологический словарь.