5.1 Оборудование для метода В
5.1.1 Микроскоп, оснащенный источником света, предметным столиком, конденсором под предметным столиком, объективом и окуляром (в соответствии с 7.1). Предметный столик должен перемещаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях в горизонтальной плоскости и поворачиваться вокруг своей вертикальной оси.
Калибруют микроскоп с помощью микрометра, которым оснащен предметный столик микроскопа, и окуляра, градуированного в сотых долях миллиметра.
Объектив и окуляр должны обеспечить увеличение не менее:
100-кратного для наблюдения элементарных нитей;
1000-кратного для измерения диаметра элементарной нити.
5.1.2 Рамка для крепления элементарной нити с продольной прорезью (см. рисунок 1)
Рисунок 1 - Рамка для крепления элементарной нити
5.2 Оборудование для метода С
5.2.1 Оптический микроскоп и/или сканирующий электронный микроскоп.
Примечание - Допускается использовать микроскоп, аналогичный микроскопу, используемому в металлографии.
5.2.2 Фотографическое оборудование.
5.2.3 Фотобумага, с полимерным покрытием.
Примечание - Фотографическое оборудование и бумага не всегда требуется для элементарных нитей с круглым поперечным сечением, но необходимы для нитей, форма поперечного сечения которых отлична от круглой.
5.2.4 Планиметр.
5.2.5 Электронный анализатор изображения.
5.2.6 Шлифовальный станок, аналогичный используемому для подготовки металлических шлифов для наблюдения под микроскопом.
5.3 Оборудование для метода D
5.3.1 Лазерный He-Ne передатчик, мощностью 2 мВт, или лазерный передатчик другого типа.
5.3.2 Держатель образца, сконструированный как гониометр (угломер) с приспособлением для удерживания рамки для крепления элементарной нити (см. 5.1.2).
5.3.3 Экран, изготовленный из белого картона.
5.3.4 Линейка, градуированная в миллиметрах.