Настоящий стандарт устанавливает методы измерений основных параметров импульсных ультразвуковых дефектоскопов общего назначения (далее - дефектоскопы), предназначенных для контроля продукции на наличие дефектов типа нарушения сплошности материалов готовых изделий и полуфабрикатов, для измерения глубины залегания дефекта, измерения отношения амплитуд сигналов от дефектов и работающих в диапазоне частот от 0,2 до 30 МГц.
Перечень параметров дефектоскопов, для которых установлены настоящим стандартом методы измерения, приведен в приложении А.