При определении соответствия или несоответствия испытуемого оборудования норме помех необходимо учитывать указанную в настоящем разделе неопределенность, вызываемую измерительной аппаратурой (MIU).
Для испытательной лаборатории неопределенность, вызываемая измерительной аппаратурой (инструментальная неопределенность измерения), должна оцениваться при измерениях, описанных в разделах 5-8, с учетом каждой из перечисленных там входных величин. Для оценки каждой величины должна оцениваться стандартная неопределенность в децибелах и коэффициент чувствительности . Суммарную стандартную неопределенность значения измеряемой величины рассчитывают по формуле
. (1)
Расширенную инструментальную неопределенность измерения испытательной лаборатории рассчитывают для каждого типа измерений как
. (2)
Если менее или равна , приведенной в таблице 1, то в отчете об испытаниях можно либо указать значение , либо отметить, что меньше, чем .
Если более , приведенной в таблице 1, то в отчете об испытаниях необходимо указать значение , в дБ, для измерительных устройств, реально использованных при измерениях.
Примечание - Считается, что в уравнении (2) коэффициент охвата k=2 обеспечивает уровень доверительной вероятности приблизительно 95% при распределении, близком к нормальному, что типично для большинства результатов измерения.
Таблица 1 - Значения
Измерение | , дБ | Таблица | |
Кондуктивные помехи на сетевом порте с использованием ЭСП | (9-150 кГц) | 3,8 | B.1 |
(150 кГц - 30 МГц) | 3,4 | B.2 | |
Кондуктивные помехи на сетевом порте с использованием пробника напряжения | (9 кГц - 30 МГц) | 2,9 | B.3 |
Кондуктивные помехи на порте связи с использованием AAN | (150 кГц - 30 МГц) | 5,0 | B.4 |
Кондуктивные помехи на порте связи с использованием емкостного пробника напряжения | (150 кГц - 30 МГц) | 3,9 | B.5 |
Кондуктивные помехи на порте связи с использованием пробника напряжения | (150 кГц - 30 МГц) | 2,9 | B.6 |
Мощность помех | (30-300 МГц) | 4,5 | C.1 |
Излучаемые помехи (напряженность электрического поля на открытой испытательной площадке или в полубезэховой камере) | (30-1000 МГц) | 6,3 | D.1-D.4 |
Излучаемые помехи (напряженность электрического поля в полностью безэховой камере) | (30-1000 МГц) | 5,3 | D.5-D.6 |
Излучаемые помехи (напряженность электрического поля в полностью безэховой камере) | (1-6 ГГц) | 5,2 | E.1 |
Излучаемые помехи (напряженность электрического поля в полностью безэховой камере) | (6-18 ГГц) | 5,5 | E.2 |
Примечание 1 - Значения основаны на расширенных неопределенностях, указанных в приложениях, которые оценивались путем рассмотрения неопределенностей, связанных с величинами, приведенными в разделах, относящихся к конкретным измерениям. Если в приложениях указаны разные значения, тогда значением, принимаемым в качестве , будет максимальное значение (например, максимум в таблицах D.1-D.4). Примечание 2 - В полосе частот ниже 1 ГГц значения рассчитаны для измерений с использованием квазипикового детектора при допущении, что значения для детектора средних значений и среднеквадратичных-средних значений не превысят этих значений. На частотах выше 1 ГГц значение рассчитано для измерения с помощью пикового детектора. |
Настоящий раздел не отменяет требований к измерительной аппаратуре, установленных в серии стандартов CISPR 16-1 и CISPR 16-4-3.