ГОСТ Р МЭК 60891-2013 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Приборы фотоэлектрические. Методики коррекции по температуре и энергетической освещенности результатов измерения вольт-амперной характеристики

     3 Методики коррекции

3.1 Общие положения

Для коррекции результатов измерений ВАХ к другим условиям по температуре и энергетической освещенности, например к стандартным условиям испытаний (СУИ), могут быть использованы следующие три методики. Первая совпадает с методикой, которая изложена в первой редакции настоящего стандарта (МЭК 891:87), отличие состоит в более удобной форме записи ее уравнений. Вторая методика является альтернативной методу алгебраической коррекции, который дает хорошие результаты при больших (>20%) поправках на энергетическую освещенность. Реализация каждой из двух методик требует знания параметров фотоэлектрического прибора, которые необходимо определить до проведения коррекции. Третья методика представляет собой процедуру интерполяции и не требует знания параметров коррекции. Методику можно применять, если измерены, по меньшей мере, три кривые ВАХ испытуемого прибора. Эти три ВАХ охватывают диапазон температур и энергетических освещенностей, в котором применима данная методика.

Все методы применимы к приборам с линейной характеристикой тока короткого замыкания согласно определению, изложенному в МЭК 60904-10.

Примечания:

1 Для проводимых при коррекции ВАХ преобразований требуется оценка точности нахождения преобразованной ВАХ при выполнении коррекции (см. раздел 7).

2 Все фотоэлектрические приборы должны обладать линейными характеристиками в ограниченном диапазоне значений энергетической освещенности и температуры прибора. Детальное описание приведено в МЭК 61853-1.

Общим требованием для реализации всех методик является измерение ВАХ в соответствии с МЭК 60904-1.

Энергетическую освещенность , как правило, вычисляют по измеренному току короткого замыкания эталонного фотоэлектрического прибора, в соответствии с МЭК 60904-2 и его калибровочному значению при стандартных условиях испытаний (СУИ). Для учета температуры эталонного прибора требуется введение поправки, содержащей специфический относительный температурный коэффициент эталонного прибора (1/°С), который задается при 25°С и 1000 Вт/м.

.

Спектральная характеристика эталонного фотоэлектрического прибора должна соответствовать испытуемому образцу. В противном случае должен быть выполнен расчет поправки на спектральное несоответствие согласно МЭК 60904-7. Во всем представляющем интерес диапазоне энергетической освещенности эталонный прибор должен иметь линейную характеристику тока короткого замыкания, определяемую в соответствии с МЭК 60904-10.

3.2 Методика коррекции 1

Коррекцию измеренной ВАХ для приведения к СУИ или другим выбранным значениям температуры и энергетической освещенности выполняют с применением следующих уравнений преобразования:

;                                     (1)

,                     (2)

где , - координаты точек на измеренной характеристике;

, - координаты соответствующих точек на скорректированной характеристике;

- энергетическая освещенность, измеренная эталонным прибором;

- энергетическая освещенность при СУИ или другая требуемая энергетическая освещенность;

- измеренная температура испытуемого образца;

- температура при СУИ или другая требуемая температура;

- ток короткого замыкания испытуемого образца, измеренный при и ;

и - температурные коэффициенты тока и напряжения испытуемого образца в представляющем интерес температурном диапазоне для энергетической освещенности при СУИ или другой заданной энергетической освещенности;

- внутреннее последовательное сопротивление испытуемого образца;

 - коэффициент коррекции кривой.

Примечания:

1 Поскольку при переходе от меньшего значения энергетической освещенности к большему точка на оси токов, изображающая напряжение холостого хода , сместится с оси токов, следует определить смещенное значение путем линейной экстраполяции с использованием, по меньшей мере, трех экспериментальных точек, расположенных вблизи и ниже точки . Другим способом является измерение исходной ВАХ достаточно далеко за пределами значения .