ГОСТ CISPR 24-2013 Совместимость технических средств электромагнитная. Оборудование информационных технологий. Устойчивость к электромагнитным помехам. Требования и методы испытаний (с Поправкой)

     4.2 Частные требования

    4.2.1 Электростатические разряды (ЭСР)

Процедура испытаний должна быть выполнена в соответствии с МЭК 61000-4-2 со следующими изменениями и уточнениями.

Электростатические разряды должны быть поданы только на те точки и поверхности ИО, к которым предполагается прикосновение во время обычной эксплуатации, в том числе пользователей, в соответствии с руководством по эксплуатации, например при очистке или возобновлении расходных материалов при включенном ИО.

Число испытательных точек зависит от ИО. При выборе испытательных точек должны быть приняты во внимание требования МЭК 61000-4-2, пункт 8.3.1 и А.5 приложения А. ЭСР на контакты открытых разъемов не подают.

Руководство по выбору фактических испытательных точек приведено в МЭК 61000-4-2, А.5 приложения А. При выборе испытательных точек особое внимание должно быть обращено на клавиатуры, клавиатуры номеронабирателя, выключатели питания, мыши, слоты дисков и карт, поверхности вблизи коммуникационных портов и т.д.

ЭСР должны выполняться двумя способами:

a) подачей контактных ЭСР на проводящие поверхности ИО и пластины связи.

ИО должно быть подвергнуто не менее чем 200 электростатическим разрядам, в том числе 100 ЭСР отрицательной и 100 положительной полярности, не менее чем в четырех испытательных точках. Для настольного оборудования одной из испытательных точек должен быть центр переднего края горизонтальной пластины связи, который должен быть подвергнут по крайней мере 50 непрямым ЭСР (по 25 каждой полярности). Все остальные испытательные точки должны быть подвергнуты воздействию не менее 50 прямых контактных ЭСР (по 25 каждой полярности). Испытаниям должны быть подвергнуты все поверхности, доступные для прикосновения пользователя. При отсутствии испытательных точек для прямых ЭСР должны быть выполнены по крайней мере 200 непрямых ЭСР [см. МЭК 61000-4-2 по использованию вертикальной пластины связи (VCP)].

Для контактных разрядов требование проводить испытания при более низких степенях жесткости, как это определено в МЭК 61000-4-2, раздел 5, не применяется;

b) подачей воздушных разрядов в отверстия и на изоляционные поверхности.

Применительно к тем частям ИО, где не представляется возможным проводить испытания методом контактного разряда, ИО должно быть исследовано для определения доступных пользователю мест, где может произойти пробой, например: отверстий по краям клавиш или крышек клавиатур и телефонных трубок. Такие точки испытывают методом воздушного разряда.     

    4.2.2 Наносекундные импульсные помехи (НИП)

Метод испытания приведен в МЭК 61000-4-4. Тем не менее схема установки для испытаний на месте эксплуатации оборудования (in situ) неприменима к ОИТ.

При испытаниях применяют процедуру, установленную в МЭК 61000-4-4, с учетом следующих изменений и уточнений:

- если ИО содержит несколько идентичных портов, то испытаниям подвергают только один порт;

- многожильные кабели, такие как 50-парный телекоммуникационный кабель, испытывают как одиночные кабели, не разделяя их на отдельные проводники или группы проводников при испытаниях;

- испытаниям подвергают только те кабели, которые в соответствии со спецификацией изготовителя поддерживают связь по кабелю длиной более 3 м;

- длина кабеля между ИО и устройством связи должна быть как можно меньше в пределах от 0,5 до 3,0 м.     

    4.2.3 Непрерывные радиочастотные помехи

4.2.3.1 Общие требования

Полоса частот для испытаний на помехоустойчивость при воздействии радиочастотного электромагнитного поля равна от 80 до 1000 МГц. Полоса частот для испытаний на помехоустойчивость при воздействии непрерывных кондуктивных помех равна от 0,15 до 80 МГц.

При испытаниях частоту помехи перестраивают в пределах установленных полос частот, однако на ограниченном числе выбранных частот может быть необходимым проведение более полных функциональных испытаний. Требование по выполнению указанных дополнительных испытаний на выбранных частотах применяют только к тем видам ОИТ, для которых это требование установлено в приложении A (при особых требованиях к конкретным ОИТ). Выбранные частоты приведены в таблицах 1-4.

Время выдержки на каждой частоте не должно быть меньше, чем время, необходимое для проверки работоспособности ИО при воздействии помехи, однако время выдержки не должно превышать 5 с на каждой из частот во время сканирования.

Время выдержки ИО не следует понимать как общее время программы или цикла, оно связано со временем реакции в случае отказа ИО.

Если иное не установлено в приложении к настоящему стандарту, отдельные испытания на частотах тактовых генераторов и других чувствительных частотах не проводят.

4.2.3.2 Непрерывные излучаемые помехи

Процедура испытаний должна быть выполнена в соответствии с МЭК 61000-4-3.

Испытуемое оборудование должно быть расположено таким образом, чтобы можно было воздействовать электромагнитным полем поочередно на его четыре стороны. В каждом положении проверяют качество функционирования ИО.