ГОСТ Р МЭК 62093-2013 Системы фотоэлектрические. Компоненты фотоэлектрических систем. Методы испытаний на стойкость к внешним воздействиям

     11.10 Испытание на стойкость к ультрафиолетовому излучению

11.10.1 Цель

Цель данного испытания - определить способность компонента противостоять воздействию ультрафиолетового (УФ) излучения.

11.10.2 Техническое оснащение

Техническое оснащение состоит из перечисленных ниже материалов:

a) испытательной камеры (далее - камера) с контролируемой температурой или другое помещение с окном или источником УФ-излучения и испытуемым компонентом. Камера должна быть способна поддерживать температуру компонента на уровне (60±5)°С и сухость;

b) источника УФ-излучения, способного излучать УФ-волны с постоянством на уровне ±15% на испытуемую панель компонента, а также способного обеспечить необходимое полное облучение в разных частях спектра в соответствии с определением в 11.10.3. В окончательном отчете об испытаниях должно быть указано, какой источник УФ-излучения использован;

c) средств для измерения и регистрации температуры компонента с точностью ±2°С. Температурные датчики крепят к передней или задней поверхности компонента близ середины. Если в одно и то же время испытывают более одного компонента, то достаточно контролировать температуру одного образца;

d) калиброванного радиометра, способного измерять УФ-излучение от источника УФ-света на испытуемой панели компонента (компонентов). См. МЭК 61345 относительно рекомендуемых источников УФ-излучения.

11.10.3 Метод

Испытание проводят в соответствии с описанным ниже методом:

a) используют калиброванный радиометр, позволяющий измерять УФ-излучение от источника УФ-света на испытуемой панели компонента, причем длина волны должна быть в интервале от 280 до 400 нм, а спектральное излучение во время испытания не должно превышать более чем в 5 раз соответствующее типовое спектральное излучение, указанное в стандартном распределении солнечного излучения [при AM (атмосферная масса) равна 1,5], приведенном в таблице 1 МЭК 60904-3, чтобы избежать нежелательного излучения с длиной волны менее 280 мм и сохранить постоянство на уровне ±15% на испытуемой панели;

b) устанавливают тестируемую панель компонента в месте, выбранном в соответствии с перечислением а) на самой неудобной стороне (например, с наибольшим количеством проводных и кабельных входов) передней частью к источнику УФ-излучения;

c) поддерживая температуру компонента в предписанном интервале, подвергают компонент минимальному облучению:

- 7,5 кВт·ч·м при длине волны в интервале между 280 и 320 нм, и

- 15 кВт·ч·м при длине волны в интервале между 320 и 400 нм;

d) переориентируют компонент таким образом, чтобы его обратная сторона оказалась лицом к источнику УФ излучения;

e) повторяют действия по перечислению с) в течение 10% времени при значениях облучения, соответствующих тем, которые были установлены для передней стороны.

11.10.4 Окончательные измерения

Повторяют испытания, описанные в 11.1 и 11.2.

11.10.5 Требования

Требования следующие:

- не должно быть свидетельств серьезных визуальных дефектов в соответствии с разделом 8;

- требования к функциональности 11.2 должны быть выполнены.