Методы основаны на сравнении по спектру рабочего и измеряемого ИС.
Шаг сканирования при измерении спектральных характеристик по длинам волн должен составлять не более:
- 10 нм - для ИС со сплошным спектром;
- 5 нм - для ИС с линейчатым спектром;
- 1 нм - для СД.
5.1 Измерения относительных значений спектральной плотности энергетической величины
Измерения проводят с использованием спектрорадиометра или измерительной спектральной установки.
5.1.1 Измерение с использованием спектрорадиометра
Для измерения используют спектрорадиометры, имеющие отсчет показаний непосредственно в единицах относительной спектральной плотности энергетической величины.
5.1.2 Измерение с использованием измерительной спектральной установки
Метод измерения приведен в приложении А.
5.1.2.1 Обработка результатов измерений
Относительное распределение спектральной плотности энергетической величины определяют отношением показаний прибора, измеряющего фототоки, обусловленные излучением измеряемого и рабочего ИС для каждой измеряемой длины волны
, (1)
где - относительная спектральная плотность энергетической величины рабочего ИС, отн. ед./нм.
При измерении ИС, имеющих сплошной спектр излучения, относительное распределение спектральной плотности энергетической величины измеряемого ИС, , отн. ед./нм, рассчитывают по формуле
, (2)
где - показание прибора, измеряющего фототок приемного устройства в делениях;
- градуировочный коэффициент, вычисляемый по формуле
, (3)
где - относительная спектральная плотность энергетической освещенности рабочей лампы накаливания, отн. ед./нм;
- значение фототока приемного устройства при освещении его рабочим ИС, деление.
Измерения ИС, имеющих линейчатый или смешанный спектр излучения, проводят ступенчатым методом, разделяя область спектра на интервалы - ступени .
Относительную спектральную плотность энергетической величины в интервале определяют на основании показаний прибора, измеряющего фототок , и рассчитывают по формуле
, (4)