ГОСТ Р МЭК 60904-3-2013 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Приборы фотоэлектрические. Часть 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических приборов с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения

     3 Методы измерения

Фотовольтаическую характеристику солнечных элементов или модулей определяют, освещая их стабильным солнечным излучением (естественным или от имитатора) при известной температуре и измеряя вольтамперную характеристику вместе со значением освещенности падающего излучения и температурой фотоэлектрического прибора. Детальное описание методики измерения вольтамперной характеристики приведено в МЭК 60904-1. Далее полученные данные могут быть пересчитаны для стандартных или других требуемых условий освещенности или температуры с помощью МЭК 60891. Пересчитанный выходной сигнал при номинальном напряжении и стандартных условиях, как правило, называют номинальным выходным сигналом.

Освещенность солнечных элементов или модулей может быть измерена с помощью эталонного фотоэлектрического прибора (с известной спектральной чувствительностью) или, при измерении естественного солнечного излучения, с помощью приемника термоэлектрического типа (пиранометра). При применении эталонного фотоэлектрического приемника, он должен соответствовать МЭК 60904-2. Температуру калибруемого фотоэлектрического прибора определяют в соответствии с МЭК 60904-1.

Чувствительность солнечных элементов неравномерна по длине волны, и их выходной сигнал зависит от спектрального распределения падающего излучения, которое у естественного солнечного излучения меняется в зависимости от нескольких факторов, таких как место расположения, погода, время года, часть дня, ориентация приемной площадки прибора и т.д., а у имитаторов солнечного спектра, в зависимости от типа и условий работы. Если освещенность измеряют с помощью радиометра термоэлектрического типа (он является спектрально неселективным) или эталонного солнечного элемента, должна быть известна спектральная плотность энергетической освещенности падающего излучения, чтобы провести необходимую коррекцию для получения спектральной чувствительности фотоэлектрического прибора в условиях стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения, приведенной в настоящем стандарте. Параметры фотоэлектрического прибора в условиях его облучения источником с любой известной спектральной плотностью энергетической освещенности рассчитывают с достаточной точностью, применяя спектральную чувствительность солнечного элемента. Методика расчета приведена в МЭК 60904-7.