Оборудование, общее для всех методов измерений, указано в настоящем разделе. В приложениях А, В, С и D содержатся схемы и другие требования к оборудованию для каждого из четырех методов соответственно.
4.1 Источник света
Для методов А, В и C используют соответствующий когерентный или некогерентный источник света, например полупроводниковый лазер или достаточно мощный источник фильтрованного белого света. Источник должен генерировать достаточное излучение при установленной длине волны (длинах волн) и быть стабильным по интенсивности в течение всего времени проведения измерения.
Если требуется, то для выбора значений длины волны может быть использован монохроматор или интерференционный фильтр (фильтры). Значение длины волны источника указывают в подробной спецификации на волокно/кабель. Ширина спектральной линии источника по уровню полумаксимума должна быть не более 10 нм, если не установлено иное.
В приложении D приведены требования к методу D.
4.2 Оптика ввода излучения
Для метода А, В или С в целях возбуждения образца используют систему оптических линз или пигтейл волокна. Рекомендуется, чтобы положение входной торцевой поверхности образца волокна не влияло на мощность излучения, вводимого в образец, что может быть достигнуто использованием возбуждающего луча, пространственно и под углом переполняющего входную торцевую поверхность образца.
Во избежание эффектов интерференции при стыковом соединении используют гель для компенсации потерь отражения между пигтейлом волокна и образцом. Соединение должно быть стабильным во время измерения.
В приложении D приведены требования к методу D.
4.3 Входное устройство позиционирования
Для правильного расположения входного конца волокна по отношению к источнику света применяют соответствующие средства. Примером может служить использование каскадов устройства позиционирования по осям , , или устройств механического соединения, например соединителей, вакуумного неразъемного соединения, трехстержневого неразъемного соединения, и т.д. Положение волокна должно оставаться стабильным в течение времени измерения.
4.4 Фильтр оболочечных мод
Используют устройство, удаляющее оболочечные моды. В определенных условиях защитное покрытие волокна будет выполнять эту функцию.
4.5 Фильтр мод высокого порядка
Принимают меры для удаления мод высокого порядка, распространяющихся в диапазоне длин волн, который больше длины волны отсечки образца или равен ей. Например, в общем случае достаточно изгиба волокна в один виток радиусом 30 мм.
4.6 Выходное устройство позиционирования
С помощью соответствующих средств торцевую поверхность выходного конца волокна выравнивают в целях точного соосного расположения выходного конца так, чтобы для измеряемой длины волны растровое изображение было соответствующим образом сфокусировано на плоскости сканирующего детектора. Для такого сопряжения могут быть использованы линзы или механический соединитель с пигтейлом детектора.
Для размещения волокна на фиксированной дистанции от апертур или детекторов используют микроскоп бокового вида или камеру с курсором в форме перекрестия. Может быть достаточным проведение регулировки положения волокна только в продольной плоскости, если волокно ограничено в боковой плоскости определенным устройством, например вакуумным держателем. (Это зависит, главным образом, от размера детектора света.)
4.7 Оптика вывода
Соответствующие требования приведены в приложениях А, В, С и D.
4.8 Детектор
Соответствующие требования приведены в приложениях А, В, С и D.
4.9 Компьютер
Для выполнения таких действий, как управление оборудованием, измерение интенсивности и обработка данных для получения окончательных результатов, применяют компьютер. Более подробная информация приведена в приложениях А, В, С и D соответственно.