Методики проведения испытаний в соответствии с методами А, В, С и D указаны в приложениях А, В, С и D соответственно.
Измерения на эталонном волокне проводят при применении всех методов. Данные по эталонному волокну могут быть сохранены для использования их при проведении измерений на образцах. Измерения на эталонном волокне повторяют в случаях изменения в составе оборудования источника света или приемной оптики, или электронных устройств.