4.1 Общие положения
В настоящем стандарте рассмотрены два метода.
Первый метод основан на определении рассеивания электростатического заряда, образованного на поверхности с помощью специального коронного разряда. Снижение потенциала поверхности измеряется измерителем поля или аналогичным инструментом. Этот способ применяется для определения степени рассеивания заряда на поверхностях и материалах.
Второй метод основан на определении рассеивания заряда с металлической пластины через испытуемый объект путем приложения напряжения к металлической пластине, отсоединением источника напряжения и наблюдением за снижением потенциала пластины с помощью измерителя поля или аналогичного прибора. Этот способ применяется для измерения рассеивания заряда сквозь материалы таких предметов, как перчатки, напальчники и ручной инструмент.
Примечание - Существуют другие способы зарядить материалы, отличные от указанных в данном разделе (например, трибоэлектризация или индуктивный заряд), но в настоящем стандарте они не рассматриваются.
4.2 Условия испытаний
Электрические характеристики материалов зависят от температуры и поглощенной влаги.
При выдерживании образцов и проведении испытаний должны соблюдаться следующие условия: температура (23±2) °С и (12±3)% относительной влажности. Время выдержки перед измерениями должно быть 48 ч, если не указано иное.
При измерениях в реальных условиях применения материалов и изделий температура и относительная влажность должны быть записаны в протоколе.
При испытаниях в лаборатории материалы должны быть очищены согласно инструкциям производителя. Чистящие вещества и способ очистки должны быть описаны.
При проверках в рабочих условиях или оценке свойств установленных материалов они должны быть испытаны без какой-либо специальной очистки. Если чистка является частью процесса, например стирка одежды, измерения необходимо проводить как до, так и после чистки. Чистящие вещества и способ очистки должны быть описаны.
4.3 Метод на основе коронного разряда
4.3.1 Оборудование для измерения
Пример расположения измерительного устройства и испытуемого образца приведен на рисунке 1.